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在軍工芯片行業(yè),芯片的可靠性和性能是至關(guān)重要的,。為了確保芯片在及端環(huán)境下的穩(wěn)定性和耐久性,,各國都制定了一系列嚴格的測試標準。其中,,美國的MIL-STD-883是全球范圍內(nèi)應用zui廣泛的微電子器件測試標準之一,,而中國的guo軍標(GJB)則在本土軍工領(lǐng)域具有quan威性。本文科準測控小編將重點介紹GJB 548C-2021及其相關(guān)標準在推拉力測試中的應用,,并結(jié)合科準測控小編的專業(yè)視角,,探討如何確保測試的準確性和合規(guī)性。
一,、國際標準MIL-STD-883
MIL-STD-883是由美國國防部發(fā)布的《微電子器件試驗方法和程序》標準,,涵蓋了微電子器件的環(huán)境適應性、可靠性測試,、機械及電氣特性等要求,。該標準在全球范圍內(nèi)被廣泛采用,是芯片測試領(lǐng)域zuijuquan威性的標準之一,。
二,、中國guo軍標(GJB)相關(guān)標準
在中g(shù)uo軍工領(lǐng)域,與MIL-STD-883對應的國家標準主要包括以下幾個重要規(guī)范:
1,、GJB 597B-2012《半導體集成電路總規(guī)范》
對標內(nèi)容:類似MIL-PRF-38535(集成電路性能規(guī)范),。
封裝要求:規(guī)定芯片封裝的氣密性、引線材料,、耐環(huán)境性能等,,補充了GJB 548C的測試框架。
2,、GJB 2438A-2021《混合集成電路通用規(guī)范》
對標內(nèi)容:類似MIL-PRF-38534(混合微電路通用規(guī)范),。
封裝要求:針對混合集成電路的多芯片封裝(MCM)、陶瓷封裝,,提出鍵合工藝,、密封性、熱循環(huán)等專項測試,。
3,、GJB 150A-2009《jun用設(shè)備環(huán)境試驗方法》
對標內(nèi)容:類似MIL-STD-810(環(huán)境工程考慮與實驗室試驗),。
封裝相關(guān):振動、沖擊,、溫度循環(huán)等試驗,,用于驗證封裝結(jié)構(gòu)在及端環(huán)境下的可靠性。
4,、GJB 360B-2009《電子及電氣元件試驗方法》
對標內(nèi)容:類似MIL-STD-202(電子元件試驗方法),。
封裝相關(guān):引線疲勞、耐焊接熱等測試,,適用于分立器件的封裝驗證,。
三、GJB 548C-2021的核心測試方法
GJB 548C-2021是芯片封裝領(lǐng)域與MIL-STD-883最直接對應的標準,,覆蓋鍵合強度,、環(huán)境試驗、可靠性驗證等核心測試項目,。以下是與推拉力測試相關(guān)的部分方法:
1,、方法2004.3 引線牢固性
用于測試引線在機械應力下的牢固性,確保引線在振動和沖擊環(huán)境下的可靠性,。
2,、方法2011.2 鍵合強度之引線拉力
通過拉力測試驗證引線鍵合點的強度,確保鍵合點在及端條件下的穩(wěn)定性,。
3,、方法2019.3 芯片剪切強度
測試芯片與基板之間的粘接強度,確保芯片在高溫,、低溫等環(huán)境下的可靠性,。
4、方法2023.3 非破壞性鍵合拉力
通過非破壞性方式測試鍵合點的拉力,,適用于高精度和高可靠性的芯片封裝,。
5、方法2028 針陣列封裝的破壞性引線拉力
針對針陣列封裝的引線進行破壞性拉力測試,,驗證引線在及端條件下的強度,。
6、方法2029 陶瓷片式載體焊接強度(破壞性推力)
測試陶瓷片式載體焊接點的強度,,確保焊接點在高溫和機械應力下的穩(wěn)定性,。
8、方法2038 焊柱陣列封裝的破壞性引線拉力
針對焊柱陣列封裝的引線進行破壞性拉力測試,,驗證引線在及端條件下的強度,。
四、其他相關(guān)標準
1,、MIL-STD-883E 微電路標準測試方法
提供了詳細的微電路測試方法,,涵蓋環(huán)境適應性,、機械性能和電氣特性。
2,、JESD22-B117 高速剪向推球測試
用于測試芯片封裝的鍵合強度,,特別是在高速剪切條件下的性能。
3,、JESD22-B116 焊線剪切測試
用于驗證焊線在機械應力下的強度和可靠性。
五,、總結(jié)
GJB 548C-2021作為中g(shù)uo軍工芯片封裝測試的核心標準,,與國際標準MIL-STD-883高度一致,涵蓋了鍵合強度,、環(huán)境試驗和可靠性驗證等關(guān)鍵測試項目,。結(jié)合GJB 597B、GJB 2438A等標準,,可以構(gòu)建完整的軍工芯片封裝質(zhì)量控制體系,。在實際應用中,需重點關(guān)注國產(chǎn)化材料要求,、數(shù)據(jù)追溯性及工藝控制等特殊條款,,以確保合規(guī)性并提升產(chǎn)品競爭力??茰蕼y控小編建議,,在執(zhí)行這些測試時,應嚴格遵循標準要求,,并結(jié)合實際應用場景進行優(yōu)化,,以確保測試結(jié)果的準確性和可靠性。
以上就是小編介紹的有關(guān)于軍工芯片封裝測試標準相關(guān)內(nèi)容了,,希望可以給大家?guī)韼椭?!如果您還想了解更多關(guān)于電阻推力圖片、測試標準,、測試方法和測試原理,,推拉力測試機怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項,、作業(yè)指導書,,原理、怎么校準和使用方法視頻,,推拉力測試儀操作規(guī)范,、使用方法和測試視頻 ,焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題,,歡迎您關(guān)注我們,,也可以給我們私信和留言,,【科準測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓,、硅晶片,、IC半導體、BGA元件焊點,、ALMP封裝,、微電子封裝、LED封裝,、TO封裝等領(lǐng)域應用中可能遇到的問題及解決方案,。
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