目錄:上海玖橫儀器有限公司>>進口探傷儀>>便攜式探傷儀>> EPOCH 650便攜式探傷儀
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 數(shù)字式 | 應用領域 | 石油,交通,冶金,航天,汽車 |
任何EPOCH系列探傷儀均可用于該測試,，包括EPOCH 600,，EPOCH 650， EPOCH 1000和EPOCH LTC,。探傷儀通常與根據(jù)產(chǎn)品厚度選擇的10 MHz或20 MHz接觸或延遲線傳感器一起使用,。
Hyperier的聲阻抗不同于聚乙烯，因此聲能將從Hyperier /聚乙烯邊界反射,。因為Hyperier是以極細的層狀螺紋的形式在儲罐的整個厚度中混合,，而不是作為單個離散層出現(xiàn)，所以沒有單個邊界回波,。相反,，如果存在Hyperier，則大量Hyperier / PE邊界將產(chǎn)生高頻散射噪聲的模式,，這在純聚乙烯中是看不到的,。使用Epoch的峰值存儲功能可以捕獲這種散射噪聲。
使用帶有適當帶通濾波器的10 MHz或20 MHz傳感器,，將儀器范圍設置為包括試件的厚度，并設置增益,，以使適當混合的Hyperier / PE純聚乙烯參考樣品返回的回波包絡為50％當在整個表面上掃描換能器時,，會產(chǎn)生更大或更小的散射噪聲。所得的增益水平通常會很高,。一旦建立了此初始設置,，包含等效Hyperier混合物的儲罐壁將返回相同水平的散射噪聲,，而如果不存在Hyperier，則散射包絡將低得多,，通常約為10％,。峰值記憶模式應用于捕獲整個樣本區(qū)域的回波包絡，因為點對點回波會發(fā)生很大變化,。在下面的示例中,，一個10 MHz的V202-RM延遲線傳感器用于測試厚度約為3-4毫米（0.120英寸至0.160英寸）的罐壁。左邊的波形顯示了Hyperier樣本的散射噪聲包絡,，右邊的波形顯示了缺少Hyperier的樣本所產(chǎn)生的低得多的噪聲包絡,。
超級舒適,，高噪音
缺少Hyperier，噪音低
請注意,，這是一個比較測試,，可驗證Hyperier混合物的存在與否，可與用于設置的參考樣品中的混合物進行比較,。它不能精確地測量產(chǎn)品中Hyperier的百分比,，但是可以快速確定由于成型工藝異常而缺少Hyperier的情況。
測試Babbitt金屬軸承襯套與鋼或青銅軸承殼之間的結(jié)合力,，并測量襯套厚度,。
（a）從軸承外表面進行粘合測試OLYMPUS奧林巴斯湖北授權代理-上海玖橫儀器有限公司
如果軸承殼的外表面可觸及且與內(nèi)徑（ID）同心，則簡單的步驟是從外部使用小型接觸換能器進行測試在10 MHz至2.25 MHz的頻率范圍內(nèi),。常見的選擇包括V112-RM（10 MHz）,，V110-RM（5 MHz）和V106-RM（2.25 MHz）傳感器。如果襯里被粘合,，則從殼/襯里邊界產(chǎn)生的小回波將跟隨著襯里ID的較大的回波,。如果襯里松開，則殼的內(nèi)表面只會有很大的回聲,。
下面的波形顯示了使用V112-RM接觸式傳感器在17.75毫米（0.700英寸）鋼殼內(nèi)的2毫米（0.080英寸）巴比特襯套的典型響應,。在下面的波形示例中，在左側(cè),，紅色柵極中的小負向回波,，然后是藍色柵極中的回波，代表一個結(jié)合狀態(tài),。在右側(cè)的波形中,，紅色柵極中的負回聲要大得多，而藍色柵極中不存在回聲,，則表示脫粘,。
鍵合的典型波形
分離產(chǎn)生的典型波形
（b）從軸承內(nèi)表面進行粘結(jié)測試
還可以使用小直徑延遲線換能器從ID中測試襯里結(jié)合,，通常使用寬帶延遲線將其半徑倒圓以符合ID曲率,，以實現(xiàn)佳耦合。頻率范圍從薄的巴比特（0.5 mm [0.020英寸]以下）的20 MHz到厚的巴比特（5 mm [0.200英寸]或更大）的2.25 MHz,。常見選擇包括帶有弧形延遲線的V208-RM（20 MHz）,，V202-RM（10 MHz），V206-RB（5 MHz）和V207-RB（2.25 MHz）傳感器,。該測試基于回波相位和幅度,。如果將巴氏合金粘結(jié)，則襯管/殼體邊界會產(chǎn)生正極性反射,。如果巴比特分離,，則回波將為負值，并且明顯更大,。這是由于兩種金屬的相對聲阻抗,。下面的波形顯示了2 mm（0。080英寸）使用V202-RM延遲線傳感器在鋼殼內(nèi)的巴氏襯套,。在左側(cè)的波形中,，門中的小正回波表示結(jié)合狀態(tài)。在右側(cè)的波形中,，較大的負回聲再加上多次反射表示解開。
EPOCH 650便攜式探傷儀
鍵合的典型波形
分離產(chǎn)生的典型波形
（c）巴氏合金厚度的測量OLYMPUS奧林巴斯重慶授權代理-上海玖橫儀器有限公司
巴氏合金厚度可以從外徑或內(nèi)徑測量,。厚度測量使用與鍵合測試相同的換能器，并且可以同時執(zhí)行,。下面的波形顯示了根據(jù)軸承ID進行的典型厚度測量,。請注意,，巴氏合金柔軟,，因此金屬的聲速慢-對于錫基巴氏合金，通常約為3350 m / s（0.1315英寸/微秒）,，約為2285 m / s（0.0900英寸/微秒）,。 ）用于基于鉛的巴比特。
巴氏厚度測量
有關巴氏軸承測試或任何其他超聲測試應用的更多信息，請
上海玖橫儀器有限公司是一家專業(yè)從事儀器儀表研發(fā),、生產(chǎn)、銷售及服務的企業(yè)。超聲波探傷儀：（EPOCH 600超聲探傷儀、EPOCH 6LT超聲探傷儀、EPOCH 650超聲探傷儀,、EPOCH 1000超聲探傷儀,、USM 36超聲探傷儀,、USN 60超聲探傷儀、USM go 超聲探傷儀,、Ominscan SX相控陣探傷儀,、OmniScan MX2相控陣TOFD探傷儀，新款OmniScan MX3全聚焦相控陣超聲波探傷儀）,；超聲波測厚儀：（27MG超聲波測厚儀、45MG超聲波測厚儀、38DL PLUS超聲波測厚儀,、DM5E超聲波測厚儀,、CL5超聲波測厚儀,、MAGNA-MIKE 8600霍爾效應測厚儀，ETG-100電磁高溫測厚儀）,；超聲波探頭,；定制相控陣探頭；渦流探傷儀：（NORTEC 600渦流探傷儀）,；硬度計；
標準配置
| 儀器的輸入/輸出 | USB端口 | USB（OTG）端口 |
|---|---|---|
| RS-232端口 | 有 | |
| 視頻輸出 | 標準VGA輸出 | |
| 模擬輸出 | 1個模擬輸出（可選）,，可選的1 V/10 V全標度，大4 mA | |
| 報警輸出 | 3個報警輸出,，5V TTL，10 mA | |
| 觸發(fā)器I/O | 觸發(fā)器輸入為5V TTL,； 觸發(fā)器輸出為5V TTL,，大10 mA | |
| 編碼器輸入 | 單軸編碼器線（正交,，僅適用于腐蝕模塊模式） | |
| 環(huán)境評級 | IP評級 | 根據(jù)IEC 60529-2004（外殼防護等級– IP規(guī)范）標準,，瀏覽鍵區(qū)硬件設計符合IP67侵入保護評級標準,，飛梭旋鈕硬件設計符合IP66侵入保護評級標準,。 在新開發(fā)的產(chǎn)品正式投入生產(chǎn)以前，奧林巴斯要對產(chǎn)品的設計進行內(nèi)部檢驗,。這款儀器經(jīng)測試證明符合IP評級標準,。 |
| 爆炸性氣氛 | 通過了美軍標準MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測試，可在國家防火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組中規(guī)定的爆炸性氣氛中安全操作。 | |
| 防撞擊測試 | 通過了美軍標準MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測試,，每個軸6個循環(huán),，15 g，11 ms半弦波,。 | |
| 防振動測試 | 通過了美軍標準MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測試,，一般暴露：每軸1小時。 | |
| 工作溫度 | –10°C～50°C | |
| 電池存儲溫度 | 0°C～50°C | |
| 一般規(guī)格 | 外型尺寸（寬 x 高 x 厚） | 236 mm x 167 mm x 70 mm |
| 重量 | 1.6公斤,，包括鋰離子電池 | |
| 鍵區(qū) | 英文,、符號、日文,、中文 | |
| 語言 | 英語,、西班牙語、法語,、德語,、日語、中文、葡萄牙語和俄語 | |
| 探頭接口 | BNC接口或 LEMO接口 | |
| 數(shù)據(jù)存儲 | 機載100000個ID編碼,，可插拔2 GB microSD卡（標準） | |
| 電池類型 | 單個鋰離子電池,，可充電，標準型 | |
| 電池供電時間 | 15小時到16小時（鋰離子） | |
| 電源要求 | AC主電源：100 VAC ～ 120 VAC,、200 VAC ～ 240 VAC,，50 Hz ～ 60 Hz | |
| 顯示器類型 | 全VGA（640 x 480像素）透反彩色LCD，60 Hz更新速率 | |
| 顯示屏尺寸（寬 x 高,，對角線） | 117 mm x 89 mm, 146 mm | |
| 脈沖發(fā)生器 | 脈沖發(fā)生器 | 可調(diào)方波 |
| PRF | 10 Hz ～ 2000 Hz,，增量為10 Hz。 | |
| 能量設置 | 100 V,、200 V,、300 V或400 V | |
| 脈沖寬度 | 25 ns ～ 5000 ns（0.1 MHz）范圍內(nèi)可調(diào)，利用PerfectSquare技術 | |
| 阻尼 | 50,、100,、200、400 Ω | |
| 接收器 | 增益 | 0 dB ～ 110 dB |
| 大輸入信號 | 20 V P-P | |
| 接收器輸入阻抗 | 400 Ω ± 5% | |
| 接收器帶寬 | 0.2 MHz ～ 26.5 MHz,，–3 dB | |
| 數(shù)字式濾波器設置 | 30個標準數(shù)字式濾波器設置 7個符合EN12668-1:2010標準的濾波設置（0.2-10 MHz,、2.0-21.5 MHz、8.0-26.5 MHz,、0.5-4 MHz,、0.2-1.2 MHz、1.5-8.5 MHz和5-15 MHz） | |
| 檢波 | 全波,、正半波,、負半波、射頻波 | |
| 系統(tǒng)線性 | 水平：±0.5 % FSW | |
| 分辨率 | 0.25 % FSH,，放大器精度為±1 dB | |
| 抑制 | 0 % ～ 80 %滿屏高,，帶有可視警告 | |
| 波幅測量 | 0 % ～ 110 %滿屏高，分辨率為0.25 % | |
| 測量速率 | 在所有模式下,，相當于PRF | |
| 校準 | 自動校準 | 聲速,、零位偏移、 垂直聲束（一個底面回波,，或回波到回波）,、角度聲束（聲程或者深度） |
| 檢測模式 | 脈沖回波、雙晶或穿透 | |
| 單位 | 毫米,、英寸或微秒 | |
| 范圍 | 3.36 mm to 13388 mm,，5,900 m/s | |
| 聲速 | 635 m/s to 15240 m/s | |
| 零位偏移 | 0 µs ～ 750 µs | |
| 顯示延遲 | -59 mm to 13401 mm，鋼中縱波聲速 | |
| 折射角度 | 0° ～ 90°,，增量為0.1°,。 | |
| 閘門 | 測量閘門 | ２個*獨立的閘門,，用于波幅和渡越時間（TOF）測量。 |
| 閘門起點 | 在整個顯示范圍內(nèi)可變 | |
| 閘門寬度 | 在從閘門起點到顯示范圍的終點之間的區(qū)域內(nèi)可變 | |
| 閘門高度 | 在2 % ～ 95 %滿屏高范圍內(nèi)可變,。 | |
| 報警 | 正閾值和負閾值,，小深度（閘門1和閘門2） | |
| 測量 | 測量顯示位置 | 5個位置（手動或自動選擇） |
| 閘門（1和2） | 厚度、聲程,、投射,、深度、波幅,、渡越時間,、小/大深度、小/大波幅 | |
| 回波到回波 | 標準閘門2到閘門1,，可選界面閘門跟蹤 | |
| 其它測量 | DGS/AVG的上沖值（dB）,、DGS/AVG的ERS（等效反射體大小）,、AWS D1.1/D1.5的A,、B、C和D值定級,、抑制值,、回波到參考dB值。 | |
| DAC/TCG | 標準 | |
| DAC點 | 多達50個點,，110 dB動態(tài)范圍 | |
| 特殊DAC模式 | 自定義DAC（多6條曲線）,，20 % ～ 80 %視圖 | |
| 曲面校正 | 用于角度聲束測量的標準外徑或棒材校正。 | |
| 腐蝕（可選） | 交叉零點測量算法,、V聲程校正,、單一回波、回波到回波,，或編碼B掃描 |
軟件選項
• EP650-TEMPLATE (Q1400002)：模板存儲
• EP650-API5UE (Q1400003)：API 5UE缺陷定量
• EP650-AVERAGE (Q1400004)：波形平均
• EP650-IG (Q1400005)：界面閘門
• EP650-BEA (Q1400006)：底面回波衰減器（BEA）
• EP650-CORRSN (Q1400001)：腐蝕模塊（包含編碼B掃描）
選購配件
• 600-BAT-L-2 (U8760058)：充電鋰離子電池
• EP4/CH (U8140055)：胸掛帶
• 600-TC (U8780294)：儲運箱
• CBAS-10668-0060 (Q7790012)：RS232通訊線纜
• DSUB-HD15-6 (U8780333)：數(shù)字輸出線纜
• 600-C-VGA-5 (U8780298)：VGA輸出線纜
• MICROSD-ADP-2GB (U8779307)：2 GB microSD存儲卡
• 600-SC-K (U8780334)：軟便攜袋（飛梭旋鈕機型）
• 600-SC-N (U8779879)：軟便攜袋（瀏覽鍵盤機型）
• N600-EXTALM (U8780332)：外置報警蜂鳴器
• CBAS-10669-0010 (Q7790008)：B掃描小車形編碼器線纜（10英尺,，還可提供其它長度）
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