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詳細介紹
X-RAY鍍層測厚儀韓國XRF-2000膜厚測量儀
快速無損測量電鍍層厚度：
電鍍廠,來料檢測等方面使用,。
規(guī)格如下圖
可測
單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層
鍍銀測量范圍0.1-50um
鍍鎳測量范圍0.5-30um
鍍銅測量范圍0.5-30um
鍍錫測量范圍0.5-50um
鍍金測量范圍0.02-6um
鍍鋅測量范圍1-30um
鋅鎳合金測量范圍1-25um
鍍鉻測量范圍0.5-25um
儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量
多個準(zhǔn)直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多個或單個準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動切換
微先鋒XRF-2020電鍍層測厚儀
產(chǎn)品功能：
1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材,！
1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金,、鎳,、銅、銀,、錫,、鋅、金,，鉻,，鋅鎳合金等。
2. 鍍層層數(shù)：可測5層,。
3. 測量產(chǎn)品位置尺寸：標(biāo)準(zhǔn)配備0.2mm準(zhǔn)直器,測量產(chǎn)品大于0.4mm(可訂制更小準(zhǔn)直器)
4. 測量時間：通常15秒,。
5. H型號機箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)。
6 L型號機箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 30 mm (長x寬x高),。
7. 測量誤差：通常小于5%,，視樣品具體情況而定。
8. 可測厚度范圍：通常0.01微米到60微米
X-RAY鍍層測厚儀韓國XRF-2000膜厚測量儀
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