詳細介紹
電鍍層測厚儀韓國XRF-2000L膜厚測量儀:功能測量電鍍層厚度
適用于 Microsoft Windows 的程序
它被編寫為在 Microsoft Windows 上運行的程序,,每個功能都創(chuàng)建為獨立的窗口
允許您在測量的同時查看相機屏幕、進行定性分析和統(tǒng)計處理。測量結果可以發(fā)送到其他程序(例如 Microsoft Excel)進行各種處理。此外,它始終更新為最新的程序。
顯示各種統(tǒng)計數(shù)據(jù)并打印報表報告
通過統(tǒng)計顯示和數(shù)值顯示窗口的功能,,可以處理各種類型的統(tǒng)計并輸出各種類型的報告,,包括XBar-Rs圖表,、柱狀圖等,。
2D3D,,隨機階段控制測量
2D3D 測量窗口功能允許您在二維或三維空間中以規(guī)則間隔測量產(chǎn)品或表面,,隨機位置測量窗口功能允許您通過注冊 XYZ 坐標來測量不規(guī)則位置的產(chǎn)品。
自動Y臺推拉功能
隨著門的打開和關閉,,Y平臺自動從測量點移動到定位位置,方便對測量產(chǎn)品進行定位,。
激光聚焦系統(tǒng)
調整焦點時,,因此始終可以進行測量,,而不會出現(xiàn)個人感覺誤差,。
定位系統(tǒng)
只需將待測產(chǎn)品放置在定位儀上,,自動對焦定位儀就會自動調整到測量點,,方便測量。
各種型號尺寸
除H型、L型,、PCB型標準型號外
我們還可以根據(jù)用戶的各種需求量身定制尺寸和應用產(chǎn)品(選配)
X射線發(fā)生控制
通過采用睡眠模式,,它會自動切換到睡眠模式,,并且僅在測量過程中產(chǎn)生X射線,從而顯著延長X射線管的使用壽命,。
溫控前置放大器和腔室
通過保持腔室和前置放大器內的恒定溫度,,可以最大限度地減少由于溫度變化而導致的測量值的變化,從而可以長時間保持校準值,。
快捷實惠完善的售后服務
由于是Micro Pioneer制造,,所以各種零件都已準備,并且由于使用技術提供A/S,,因此您可以快速且廉價地獲得A/S并升級各種功能,。
設備性能保證期長
使用熒光 X 射線進行快速測量
使用熒光 X 射線進行測量可以以非破壞性、非接觸的方式進行準確,、快速的測量,。
采用各種測量濾波器
采用初級過濾器、檢測過濾器(Co,、Ni(可選),、數(shù)字過濾器),可以精確測量Ni/Cu,、Cu/Zn等,。
各種產(chǎn)品測量
可采用單層電鍍、雙層電鍍,、合金電鍍,、鍍液分析、定性分析等多種測量方法,。
瞄準和射擊位置控制
除了只需在相機屏幕上單擊所需位置即可自動調整測量點位置的 Point & Shot 功能外,,它還提供了根據(jù)載物臺控制窗口中的按鈕位置的變速功能,使您能夠輕松快速地調整到所需位置,。
自動光軸校準
如果相機的測量點與實際的X射線束位置不匹配,,則在測量小型產(chǎn)品時,測量值將不匹配,。此時,,利用光束位置搜索功能自動對準X射線光束和相機的測量點。
視頻疊加功能
支持視頻疊加功能,,將攝像機畫面顯示在一臺顯示器上,,可以打印、保存或讀取攝像機畫面并在屏幕上顯示,,并作為報告項目打印,。
自動標尺及光束顯示功能
電腦輔助標尺功能可隨時準確定位,準直器尺寸以實際尺寸顯示,在測量小產(chǎn)品時可實現(xiàn)精確測量,。此外,,自動準直儀產(chǎn)品每當尺寸發(fā)生變化時,都會自動調整光束顯示的尺寸和位置以匹配尺寸,。
根據(jù)極限設置彩色顯示測量值
在主測量窗口中,測量值根據(jù)限值設置以紅色或綠色顯示,??梢詾槊總€鍍層和合金成分單獨設置限制。
X-RAY膜厚測試儀X射線鍍層測厚儀
測量各類五金,電子連接器端子半導體等電鍍層厚度,。
可測金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鉻,銠,鉑,鋅鎳合金等鍍層,。
可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層等。
適應電鍍生產(chǎn)企業(yè),,產(chǎn)品來料檢測半導體五金電鍍等相關行業(yè),。
韓國MicroP XRF-2020膜厚儀
可測單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層
鍍銀測量范圍0.1-50um
鍍鎳測量范圍0.5-30um
鍍銅測量范圍0.5-30um
鍍錫測量范圍0.5-50um
鍍金測量范圍0.02-6um
鍍鋅測量范圍1-30um
鋅鎳合金測量范圍1-25um
鍍鉻測量范圍0.5-25um
儀器規(guī)格
XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg
XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高10cm:臺載重5kg
儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量
多個準直器可選擇:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換
韓國先鋒XRF-2020L型H型
MicropXRF-2000,XRF-2020
功能測量電鍍層厚度特點:
全自動臺面,自動雷射對焦,,多點自動測量
儀器全系均為全自動臺,,自動雷射對焦!
多點自動測量
可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換
快速無損測量電鍍層厚度,,可測單鍍層,,雙鍍層,多層鍍層及合金鍍層
X-RAY膜厚測試儀X射線鍍層測厚儀