1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材,！

1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾,，包含常見的金、鎳,、銅,、銀,、錫,、鋅,、金，鉻,，鋅鎳合金等,。

2. 鍍層層數：可測5層。

3. 測量產品位置尺寸：標準配備0.2mm準直器,測量產品大于0.4mm(可訂制更小準直器)

4. 測量時間：通常15秒,。

5. H型號機箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 100 mm (長x寬x高),。

6  L型號機箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)。

7. 測量誤差：通常小于5%,，視樣品具體情況而定,。

8. 可測厚度范圍：通常0.01微米到60微米