詳細(xì)介紹
XRF-2020測厚儀韓國Micropioneer膜厚測量儀
規(guī)格如下圖
XRF-2020測厚儀韓國Micropioneer膜厚測量儀
產(chǎn)品功能:
1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材!
1. 鍍層元素范圍:鈦~鈾,包含常見的金,、鎳,、銅,、銀,、錫、鋅,、金,,鉻,鋅鎳合金等。
2. 鍍層層數(shù):可測5層,。
3. 測量產(chǎn)品位置尺寸:標(biāo)準(zhǔn)配備0.2mm準(zhǔn)直器,測量產(chǎn)品大于0.4mm(可訂制更小準(zhǔn)直器)
4. 測量時(shí)間:通常15秒,。
5. H型號(hào)機(jī)箱容納樣品尺寸:550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)。
6 L型號(hào)機(jī)箱容納樣品尺寸:550 x 550 x 30 mm (長x寬x高),。
7. 測量誤差:通常小于5%,視樣品具體情況而定,。
8. 可測厚度范圍:通常0.01微米到60微米