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1) 軟件應用
- 單鍍層測量
- 線性層測量,如:薄膜測量
- 雙鍍層測量
- 針對合金可同時進行鍍層厚度和元素分析
- 三鍍層測量,。
- 無電鍍鎳測量
- 吸收模式的應用 DIN50987.1/ ISO3497-A2
- 勵磁模式的應用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本參數(shù)法可以滿足所有應用領域的測量
2) 軟件標定
- 自動標定曲線進行多層分析
- 使用無標樣基本參數(shù)計算方法
- 使用標樣進行多點重復標定
- 標定曲線顯示參數(shù)及自動調(diào)整功能
3) 軟件校正功能:
- 基點校正(基線本底校正)
- 多材料基點校正,,如:不銹鋼,,黃銅,,青銅等
- 密度校正
4) 軟件測量功能:
- 快速開始測量
- 快速測量過程
- 自動測量條件設定(光管電流,濾光片,,ROI)
5) 自動測量功能(軟件平臺)
- 同模式重復功能(可實現(xiàn)多點自動檢測)
- 確認測量位置 (具有圖形顯示功能)
- 測量開始點設定功能(每個文件中存儲原始數(shù)據(jù))
- 測量開始點存儲功能,、打印數(shù)據(jù)
- 旋轉(zhuǎn)校正功能
- TSP應用
- 行掃描及格柵功能
6) 光譜測量功能
- 定性分析功能 (KLM 標記方法)
- 每個能量/通道元素ROI光標
- 光譜文件下載、刪除,、保存,、比較功能
- 光譜比較顯示功能:兩級顯示/疊加顯示/減法
- 標度擴充、縮小功能(強度,、能量)
7) 數(shù)據(jù)處理功能
- 監(jiān)測統(tǒng)計值: 平均值,、 標準偏差、 大值。
- 小值,、測量范圍,,N 編號、 Cp,、 Cpk,,
- 獨立曲線顯示測量結(jié)果。
- 自動優(yōu)化曲線數(shù)值,、數(shù)據(jù)控件
8)其他功能
- 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境
- 獨立操作控制平臺
- 視頻參數(shù)調(diào)整
- 儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設連接
- Multi-Ray,、Smart-Ray自動輸出檢測報告(HTML,Excel)
- 屏幕捕獲顯示監(jiān)視器,、樣本圖片,、曲線等.......
- 數(shù)據(jù)庫檢查程序
- 鍍層厚度測量程序保護,。
- 自動校準功能,;
- 優(yōu)化系統(tǒng)取決儀器條件和操作室環(huán)境;
- 自動校準過程中值增加,、偏置量,、強度、探測器分辨率,,迭代法取決于峰位
置,、 CPS、主X射線強度,、輸入電壓,、操作環(huán)境。
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