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NSG3040浪涌測試儀

參  考  價:面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號

  • 品牌

    TESEQ/特測

  • 廠商性質(zhì)

    代理商

  • 所在地

    上海市

更新時間:2025-06-26 09:38:23瀏覽次數(shù):3666次

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Teseq公司的NSG3040浪涌測試儀是抗擾度測試中的模擬電磁干擾影響的多功能發(fā)生器,,NSG3040個系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn),。由于采用技術(shù)組件,NSG 3040在開關(guān)切換技術(shù)和相位精度方面建立了新的標(biāo)準(zhǔn),,并且超越了現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)的要求,。高畫質(zhì)及對比度的7“大彩色觸摸顯示屏使得NSG 3040的操作非常簡便。

NSG3040浪涌測試儀介紹:

Teseq公司的NSG 3040是抗擾度測試中的模擬電磁干擾影響的多功能發(fā)生器,,它操作簡便,、具有多種功能,滿足企業(yè)、國內(nèi)和標(biāo)準(zhǔn)(包括的IEC/EN標(biāo)準(zhǔn))和CE標(biāo)志測試的傳導(dǎo)EMC測試要求,。NSG 3040采用了特測公司設(shè)計理念包含了電子快速瞬變(EFT)和電能質(zhì)量測試 (PQT),。豐富的擴(kuò)展功能使該系統(tǒng)提供更廣泛的應(yīng)用配置范圍。

創(chuàng)新的模塊化設(shè)計-NSG 3040是多用途系統(tǒng),,可以按照基本測試要求配置和擴(kuò)展以滿足復(fù)雜的測試實驗室的需求,。成熟的“主—從”概念技術(shù)使得單個脈沖模塊能夠獨(dú)立校準(zhǔn),并將校準(zhǔn)資料和修正系數(shù)存儲于從控制器上,。新模塊安裝簡便,,無需返回整NSG3040個系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)。

由于采用技術(shù)組件,,NSG 3040在開關(guān)切換技術(shù)和相位精度方面建立了新的標(biāo)準(zhǔn),,并且超越了現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)的要求。高畫質(zhì)及對比度的7“大彩色觸摸顯示屏使得NSG 3040的操作非常簡便,。根據(jù)要求,,既可以通過一體化鍵盤也可以用帶有靈敏度調(diào)整鍵的滾輪來進(jìn)行輸入。此外,,在開發(fā)環(huán)境下,,通過內(nèi)置的TA(測試程序調(diào)用)功能,幾個“點(diǎn)擊”就能激活標(biāo)準(zhǔn)測試,,迅速,、可靠地得到結(jié)論性結(jié)果。

便捷的觸摸按鈕使輸入的每個參數(shù)的值非常明顯,,并允許用戶快速選擇和修改所有的設(shè)置,。該操作不需要觸控筆,測試參數(shù)可以迅速,、簡便地編輯出來,。可以簡便地進(jìn)行多步驟測試程序的增加,、程序次序及參數(shù)值的修改,。在“專家模式”下,用戶可以在測試中使用滾輪進(jìn)行手動參數(shù)修改,,從而有效,、迅速地簡化激活關(guān)鍵閾值。

通過SD讀卡器可迅速進(jìn)行固件下載,??梢酝暾谋4嬗捎脩舻臏y試,。在存儲空間不夠的特殊情況下,,可用市場購買的SD記憶卡更換該記憶卡,而存放其中的測試文件可被輕松復(fù)制進(jìn)更大內(nèi)存的SD卡中,。

NSG3040浪涌測試儀具有以太網(wǎng)端口,,可接受來自個人電腦的外部控制。Windows軟件簡化了測試程序并允許為各種類型的測試編寫復(fù)雜的測試序列,。在測試進(jìn)程中,,操作人員可以進(jìn)行觀察并在測試操作中生成測試報告,以此增加測試的效率,。

浪涌組合波脈沖1.2/50~8/20µs(組合浪涌脈沖) — CWM 3450

脈沖符合IEC/EN 61000-4-5, GB/T 17626.5標(biāo)準(zhǔn)

NSG3040用于CE應(yīng)用的靈巧型4KV解決方案

脈沖電壓(開路):±200V–4.4kV(以1V為步長)

脈沖電流(短路):±100A–2.2kA

阻抗:2/12Ω

極性:正/負(fù)/交替

脈沖重復(fù)周期:10s–600s(以1s為步長)

測試時間:1至9999個脈沖,,不間斷

相位同步:異步、同步0–359°(以1°為步長)

耦合:外部/內(nèi)部

快速瞬變脈沖群測試 (EFT) 5/50ns—FTM 3425

脈沖符合IEC/EN 61000-4-4, GB/T 17626.4標(biāo)準(zhǔn)

脈沖幅度:±200V–4.8kV(以1V為步長)—開路  

±100V–2.4kV(50Ω匹配系統(tǒng))

脈沖群頻率:100Hz–1000kHz

極性:正/負(fù)/交替

重復(fù)時間:1ms – 4200s (70min)

脈沖群時間:1us – 1999s,,單脈沖,,不間斷

測試時間:1s –1000h

相位同步:異步、同步0-359°(以1°為步長)

耦合:外部/內(nèi)部

電壓暫降和電壓跌落 — PQM 3403

符合IEC/EN 61000-4-11, GB/T 17626.11標(biāo)準(zhǔn)

電壓暫降&電壓跌落:從EUT輸入電壓跌至0V,、0%

選配可選自耦變壓器的Uvar:取決于型號(VAR 3005)

選配步進(jìn)式變壓器的Uvar:0,、40、70,、80% (INA650x)

峰值沖擊電流能力:500A (230V時)

開關(guān)時間:1–5 µS(100?負(fù)載)

周期時間:20us至1999s,、循環(huán)1至99’999次

測試時間:1s–70’000min,1至99’999個周期,,不間斷

重復(fù)時間:40µs–35min,、循環(huán)1至99999次

相位同步:異步、同步0–359°(以1°為步長)

電壓變化測試(僅與VAR 3005系列調(diào)壓器配合使用)

符合IEC/EN 61000-4-11, GB/T 17626.11標(biāo)準(zhǔn)

帶有可選自耦變壓器的0–265V(以1V為步長),、0–115%(以1%為步長)

重復(fù)時間:1ms–35min,,循環(huán)1–99999次

測試持續(xù)時間:1ms–5s,循環(huán)1至250周期(50Hz)  

重復(fù)時間:10ms–10s,;1–250周期(50Hz),,1–300周期(60Hz)

測試持續(xù)時間:1s–99999min、1–99999個事件,、不間斷

相位同步:異步,、同步0–359°(以1°為步長)

與INA753和INA701或702共同產(chǎn)生的脈沖磁場

符合IEC/EN 61000-4-9, GB/T 17626.9標(biāo)準(zhǔn)

場強(qiáng):1–1200A/m (以1A/m為步長)

極性:正/負(fù)/交替

重復(fù)時間:5s – 10min (以1s為步長)

阻抗:2Ω

線圈因數(shù):0.0 –50.00

測試時間:1– 9’999個脈沖,不間斷

相位同步:異步,、同步0 – 359°(以1°為步長)

EUT供電:單相

EUT VAC:24至260Vrms,,50/60Hz (相線—中線),大400Hz

EUT VDC:0至260VDC

EUT電流:

1x16Arms,,不間斷(溫度監(jiān)控)

1x25Arms,,1分鐘

EFT(脈沖群) 將所有的線與參考地進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)耦合(GND)    

 

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