產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 20萬(wàn)-50萬(wàn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,地礦 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
格林諾爾GN-FSDD900光譜儀主要應(yīng)用于采礦作業(yè)(勘探,、開(kāi)采,、品位控制),工業(yè)礦物,,生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料,,耐火材料,陶瓷和玻璃,,地球化學(xué)學(xué)術(shù)研究,,考古等。其優(yōu)異的線性動(dòng)態(tài)范圍,,可實(shí)現(xiàn)在水泥,、礦物、采礦,、金屬,、玻璃和陶瓷行業(yè)進(jìn)行超高精度的過(guò)程控制和質(zhì)量控制。
具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術(shù)的新一代Fast SDD檢測(cè)器,,對(duì)輕,、中、重元素和常見(jiàn)氧化物(Na2O,、MgO,、Al2O?、SiO?,、P2O5,、SO?,、K2O、CaO,、TiO?,、Cr2O?、MnO,、Fe2O?,、ZnO和SrO等)都可達(dá)到最佳分析效果。
Simply the Best
>*制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測(cè)器
>真空光路配備薄膜濾光片技術(shù),,提高輕元素檢出限
>可同時(shí)分析40種元素
>可分析固體,,液體,粉末和泥漿
>進(jìn)口X光管管芯提供可靠樣品激發(fā)性能
>無(wú)損檢測(cè),,快速分析(1-2分鐘出結(jié)果)
>無(wú)需化學(xué)試劑,,無(wú)耗材,更環(huán)保,,更高效
GN-FSDD900的分析性能,,使其可以輕松完成對(duì)以下礦種的測(cè)試:
鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦,、鈦鐵礦,、菱鐵礦等)
銅礦(黃銅礦、赤銅礦,、孔雀石等)
鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦,、鉻鉍礦等)
鉬礦(輝鉬礦,、銅鉬礦、鎢鉬礦等)
鎢礦(白鎢礦,、黑鎢礦,、錫鎢礦等)
鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦,、燒綠石等)
鉛鋅礦(方鉛礦,、閃鋅礦、白鉛礦等)
鎳礦(紅土鎳礦,、硫化銅鎳礦等)
鋁土礦
其它礦類
采礦作業(yè)礦產(chǎn)礦石元素分析儀(XRF)產(chǎn)品特點(diǎn)
1.小型化,、高性能、高速度,、易操作,,Na11-U92高靈敏度、高精度分析
2.可同時(shí)分析40種元素
3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù)
4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測(cè)器提供出色的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率
5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計(jì),,雙真空抽速機(jī)構(gòu),,真空度自動(dòng)穩(wěn)定系統(tǒng)
6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件,,多任務(wù),多窗口操作
7.薄膜濾光片技術(shù),,有效提高輕元素檢出限
采礦作業(yè)礦產(chǎn)礦石元素分析儀(XRF)儀器參數(shù)
儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm |
超大樣品腔:465mm*330mm*110mm |
半封閉樣品腔(抽真空時(shí)):Φ150mm×高75mm |
儀器重量: 48Kg |
元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾 |
可分析含量范圍:1ppm- 99.99% |
探測(cè)器:AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測(cè)器 |
探測(cè)器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV |
處理器類型:全數(shù)字化DP-5分析器 |
譜總通道數(shù):4096道 |
X光管:高功率50瓦光管(進(jìn)口管芯),,冷卻方式:硅脂冷卻 |
光管窗口材料:鈹窗 |
準(zhǔn)直器:多達(dá)8種選擇,最小0.2mm |
濾光片:7種濾光片的自由選擇和切換 |
高壓發(fā)生裝置:原裝美國(guó)高壓,,電壓輸出:0-50kV,;輸出電流:0-1mA |
高壓參數(shù):最小5kv可控調(diào)節(jié),自帶電壓過(guò)載保護(hù),,輸出精度:0.01% |
樣品觀察系統(tǒng):500萬(wàn)像素高清CCD攝像頭 |
電壓:220ACV 50/60HZ |
環(huán)境溫度:-10 °C 到35 °C |
儀器配置
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 可選配置 |
純Ag初始化標(biāo)樣 | 磨樣機(jī) |
真空泵 | 壓片機(jī) |
礦石專用樣品杯 | 烘干箱 |
USB數(shù)據(jù)線 | XRF專用全自動(dòng)熔樣機(jī) |
電源線 | 電子秤 |
測(cè)試薄膜 | 礦石標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) |
儀器出廠和標(biāo)定報(bào)告 | 交流凈化穩(wěn)壓電源 |
保修卡 | 150目篩子 |
全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件
軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法(FP),,經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法(EC),可輕松分析各類樣品。
*光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,,堆積峰和峰總和,,平滑度以及測(cè)量到的峰背景光譜的數(shù)量
*對(duì)吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的*校正,即所有基質(zhì)效應(yīng),,增強(qiáng)和吸收,。
*譜顯示:峰定性,KLM標(biāo)記,,譜重疊比較,,可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖
*可以通過(guò)積分峰的凈面積或使用測(cè)得的參考光峰響應(yīng),將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù),。
*可以使用純基本參數(shù)方法,,具有分散比的基本參數(shù)(對(duì)于包含大量低Z材料的樣品)或通過(guò)簡(jiǎn)單的最小二乘擬合進(jìn)行定量分析。
*基本參數(shù)分析可以基于單個(gè)多元素標(biāo)準(zhǔn),,多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)的樣品,。