產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保 |
---|---|---|---|
真空計(jì) | 范圍10mTorr到20Torr |
關(guān)于Ultra-AS探測(cè)器的詳細(xì)信息,請(qǐng)見(jiàn)帶電粒子探測(cè)器,。
![]() |
參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2023-11-20 10:53:02瀏覽次數(shù):1704
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!
產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保 |
---|---|---|---|
真空計(jì) | 范圍10mTorr到20Torr |
Aria/MEGA/DUO/Ensemble介紹:
1,、Alpha-Mega是一個(gè)完整的單路實(shí)驗(yàn)室Alpha譜儀,形狀大小等同于Alpha-Duo,,其大面積測(cè)量艙室,,可采用面積3000mm2探測(cè)器,可直接測(cè)量106mm直徑的濾紙濾膜樣品,;
2,、Alpha-DUO 是一個(gè)完整的雙路 alpha 譜儀,用于傳統(tǒng)制樣方法下Alpha樣品分析,;
3,、Ensemble 是一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的機(jī)箱、可最多容納4個(gè)Alpha-DUO,、4個(gè)Alpha-Mega,、或其組合體;
4,、Alpha-DUO 和Alpha-Mgega 既可以獨(dú)立工作,,也可以嵌入到Ensemble機(jī)箱中構(gòu)成多路Alpha譜儀。
結(jié)構(gòu)特性與性能指標(biāo):
1,、探測(cè)器面積可選300/450/490/600/900/1200 mm2,。
2、樣品直徑13mm至51mm。
3,、探測(cè)器與被測(cè)樣品之間有10檔距離可選,,相鄰兩檔之間的距離差為4mm, 距離可達(dá)44mm。
4,、*數(shù)字化且每路*獨(dú)立的MCA,,一切參數(shù)由計(jì)算機(jī)控制(Alpha Aria由外面板控制真空)。
5,、真空計(jì):范圍10mTorr到20Torr,。
6、探測(cè)器偏壓:范圍0±100V, 大小和正負(fù)極性可調(diào),。
7,、漏電流檢測(cè)器:范圍0到10,000nA,顯示分辨率3nA,。
8,、脈沖發(fā)生器:范圍0到10Mev,穩(wěn)定性<50ppm/oC,,脈沖幅度可調(diào),。
9、數(shù)字化MCA:通過(guò)軟件可設(shè)置系統(tǒng)轉(zhuǎn)換增益(道數(shù))為256,、512,、1024、 2048或者4096道,,細(xì)調(diào)增益為0.25到1;增益穩(wěn)定性: ≤150ppm/oC,;每個(gè)事件的轉(zhuǎn)換時(shí)間(死時(shí)間):<2 µs,。
10、數(shù)字化穩(wěn)譜,、ADC的零點(diǎn)(ZERO)和下閾(LLD)均由計(jì)算機(jī)調(diào)節(jié)設(shè)置,。
11、譜儀的探測(cè)器偏壓,、漏電流均可在軟件相關(guān)界面上以數(shù)字和圖形顯示出來(lái),。
12、分辨率和本底:基于使用450mm2ULTRA-AS探測(cè)器和高質(zhì)量Am241點(diǎn)源,,能量分辨率(FWHM):≤20KeV(探測(cè)器到源的距離等于探測(cè)器的直徑,;探測(cè)器效率: ≥25% (探測(cè)器到源的距離小于10mm);本底:在3MeV以上每小時(shí)計(jì)數(shù)≤1,。
13,、輸入電源:120/240 V ac, 50/60 Hz,輸入功率50W。
14,、USB2.0接口,。
15、應(yīng)用軟件:MAESTRO-32 或 AlphaVision,。
16,、Ensemble-8尺寸:48.5cm W×49.2cm D ×27.2cm H;凈重:26.6 kg,。
17,、工作條件: 溫度0oC到50oC, 相對(duì)濕度 ≤ 95% 。
另幾款實(shí)驗(yàn)室Alpha譜儀的分辨率(@5.486MeV):
ENUS-490,,F(xiàn)WHM): ≤ 22KeV,; ENUS-600,F(xiàn)WHM): ≤ 24KeV,。
ENUS-900,,F(xiàn)WHM): ≤ 29KeV; ENUS-1200,,F(xiàn)WHM): ≤ 37KeV,。
Ensemble/DUO/MEGA都已植入反沖抑制功能,只需配置反沖抑制樣品盤(pán)RCAP-ST即可實(shí)現(xiàn)該功能,,從而盡可能避免探測(cè)器與艙室被alpha粒子沾污,。