TY-9800型X熒光光譜儀

產品分類：X熒光光譜儀

產品簡介：X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成,。X射線管產生入射X射線（一次X射線）,，激發(fā)被測樣品，產生X熒光（二次X射線）,，探測器對X熒光進行檢測,。

產品詳情

TY-9800型X熒光光譜儀由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線）,，激發(fā)被測樣品,，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測,。

  一,、主要用途

X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強度，可以 測定元素含量,。

近年來,，X熒光光譜分析在各行業(yè)應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金,、地質,、有色,、建材、商檢,、環(huán)保,、衛(wèi)生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛,。

大多數(shù)分析元素均可用其進行分析,，可分析固體、粉末,、熔珠,、液體等樣品，分析范圍為Be到U,。并且具有分析速度快,、測量范圍寬、干擾小的特點,。

 二,、優(yōu)缺點

     優(yōu)點

a) 分析速度快。測定用時與測定精密度有關,，但一般都很短,，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。

b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關,，而且跟固體,、粉末、液體及晶質,、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系,。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內,，這種效應更為顯著,。波長變化用于化學位的測定 。

c) 非破壞分析,。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變,，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量,，結果重現(xiàn)性好,。

d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,。

e) 分析精密度高,。目前含量測定已經達到ppm級別。

f) 制樣簡單，固體,、粉末,、液體樣品等都可以進行分析。

     缺點

a） 定量分析需要標樣,。

b）對輕元素的靈敏度要低一些,。

c）容易受元素相互干擾和疊加峰影響。