自2014年起,，國產(chǎn)12寸晶圓的量產(chǎn)問題得到解決,，國產(chǎn)晶圓進入到一個飛速發(fā)展的時期中。晶圓作為芯片的載體,，在當(dāng)今科技時代起著至關(guān)重要的作用,，小到遙控器、手機,，大到航天領(lǐng)域,，例如衛(wèi)星等都離不開晶圓。那么晶圓的加工工藝是否達到標(biāo)準決定了成品的優(yōu)劣,。今天筆者就為大家介紹Bruker Dektak-XT接觸式表面輪廓儀在晶圓方面的測試應(yīng)用,。

Bruker Dektak-XT接觸式表面輪廓儀（臺階儀）作為Dektak系列第十代產(chǎn)品，經(jīng)過50多年的更新升級及技術(shù)創(chuàng)新,，目前已成為使用廣泛的接觸式表面檢測設(shè)備,，有著眾多的用戶群體并得到好評。

①臺階高度重現(xiàn)性低于4?

②主流的LVDT傳感器技術(shù)

晶圓在制作電路的流程中,，主要以光刻,、蝕刻、沉積,、研磨,、拋光等工藝排列組合，在硅片上將電路層層疊加,。Dektak-XT接觸式表面輪廓儀能夠用于每個工藝過程。

光刻/沉積：光刻/沉積工藝中臺階高度的測試

蝕刻：蝕刻工藝中臺階高度或凹槽深度的測試

拋光/研磨：拋光/研磨工藝中粗糙度的測試

在以上測試中,，臺階儀都能夠快速的得到相應(yīng)數(shù)據(jù),。