布魯克Dektak XT探針式表面輪廓儀(臺階儀)
自1968年臺階儀Dektak Ⅰ面世以來,,迄今已有50多年的發(fā)展歷程。通過整合技術,突破創(chuàng)新,,Dektak系列臺階儀已經來到了第十代,目前我們主要有兩種型號:桌面式DektakXT(圖1),,樣品兼容可到8寸,;另外一款是集成了防震臺一體化的落地式DektakXTL,它的兼容樣品可以達到12寸(圖2),。布魯克第十代Dektak 產品在過去五十年不斷的技術創(chuàng)新,,得到眾多使用客戶的認可。
圖1 圖2
臺階高度重現性低于 4 ?
Dektak XT 是使用single-arch 設計的探針輪廓儀,, single-arch 設計及智能電子器件,,大大改善了設備穩(wěn)定性,進一步提高防震性能,。Dektak XT在測量臺階高度重復性方面具有優(yōu)異的表現,,臺階高度重復性可低于4?。使用 single-arch 結構比原先的懸臂梁設計更加穩(wěn)固,,降低了對不利環(huán)境條件的敏感性,,如聲音和震動噪音。
方便的更換探針技術讓一切變得輕松
對多用戶儀器而言,,能快速輕松更換探針以適應不同應用是必要的,。Dektak臺階儀的轉接頭和探針通過強磁吸附進行連接,,在探針更換工具的配合下,更換探針簡單,、方便,、易操作(圖3)。DektakXT 新的針尖自動校準,,消除任何潛藏的針尖更換/校準隱患,。這一技術讓其他困難并耗時的任務變得輕松且快速。為盡量滿足使用的要求,,Bruker 提供了范圍廣泛的標準和客戶定制探針規(guī)格,,包括用于深溝渠測量的高徑比針尖。
圖3
LVDT:主流的微位移傳感技術廣泛應用于航空航天等領域
作為探針式表面輪廓儀核心的部件—傳感器,,Dektak XT采用LVDT傳感器原理,,即Linear Variable Differential Transformer線性可變差動變壓器(圖4),其優(yōu)勢包括:無摩擦測量,、延長機械壽命,、提高分辨率、零位可重復性,、軸向抑制,、堅固耐用、環(huán)境適應性,、輸入/輸出隔離,。
圖4
帶機械臂的全自動傳片臺階儀
全自動型臺階儀(cassette-to-cassette臺階儀),將Bruker DektakXTL臺階儀系統和機械傳送臂相結合(圖5),,實現了全自動上下片,,通過圖形識別等功能實現自動準確定位(樣品定位精度在±5微米),自動檢測,,數據自動輸出和上傳,,減少人工成本和人員誤差,可以實現75mm到300mm晶圓檢測全自動化,。為半導體行業(yè)在工藝開發(fā),,質量保證與質量控制應用方面進行了優(yōu)化。
圖5
臺階儀主要用于材料表面的2D,,3D測量,,可以測試臺階高度,表面粗糙度,;同時也適合材料表面溝槽深度的測試,;能夠在微電子,半導體及化合物半導體,,太陽能,、超高亮度發(fā)光二管(LED),、OLED、ITO,、微流控,、醫(yī)學、材料科學等行業(yè)實現納米級表面形貌測量,。Dektak臺階儀測量薄膜材料可以達到埃級重現性和1nm-1mm的測量范圍,。
圖6
圖7