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將被檢件與儀器檢漏口聯(lián)接抽真空,，在被檢件外面罩以充滿氦氣的容器，如被檢件有漏孔,，氦氣便由漏孔進(jìn)入被檢件,，終達(dá)到質(zhì)譜管被檢測。所測漏率是被檢件的總漏率,，不能確定有幾個泄漏點(diǎn)和每個漏點(diǎn)的準(zhǔn)確位置,。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
快速檢漏工裝系統(tǒng)二
1、吸槍法
被檢件充入高于大氣壓的探索氣氦,，檢漏儀的檢漏口連接稱之為吸槍的氣體采集器,。當(dāng)試件有漏時，泄漏的氦氣被吸槍吸入檢漏儀,，而被檢測,。吸槍在試件表面移動，同時注視檢漏儀漏率指示的變化，一旦泄漏增加,，吸槍所指位置即漏點(diǎn)所在,。因此吸槍法也是能確定漏孔的檢漏方法。
2,、 鐘罩法——測總漏率
將被檢件與儀器檢漏口聯(lián)接抽真空,，在被檢件外面罩以充滿氦氣的容器，如被檢件有漏孔,，氦氣便由漏孔進(jìn)入被檢件,，終達(dá)到質(zhì)譜管被檢測。所測漏率是被檢件的總漏率,，不能確定有幾個泄漏點(diǎn)和每個漏點(diǎn)的準(zhǔn)確位置,。
快速檢漏工裝系統(tǒng)二
3、 背壓法——測總漏率
電子元器件進(jìn)行氣密性檢測時常用背壓法,。檢漏前用加壓容器向被檢件壓入氦氣（由壓力和時間控制壓入的量） ,，然后取出被檢件，吹去表面吸附氦后放入檢漏罐中,，再將檢漏罐聯(lián)接到檢漏儀的檢漏口上,，對檢漏罐抽真空，實(shí)施檢漏,。若器件有漏,，則通過該漏孔壓人的氦氣又釋放出來進(jìn)入檢漏罐，終到達(dá)質(zhì)譜管,。用這種方法測得的漏率也是總漏率,。
4、 輔助真空系統(tǒng)
對子漏氣速率和放氣速率較大或者體積較大的被檢件,，若直接與檢漏儀相連,，檢漏儀的真空度可能抽不上去，使檢漏儀無法工作,。此種情況須加接輔助真空系統(tǒng),，提高對被檢件的抽速。簡單的輔助真空系統(tǒng)只需一個機(jī)械泵和兩個閥門 ,，復(fù)雜的系統(tǒng)可由前級泵,、次級泵、閥門,、真空規(guī)及標(biāo)準(zhǔn)漏孔等組成。次級泵可用擴(kuò)散系或羅茨泵,，前級系好用氣鎮(zhèn)式機(jī)械泵,。
