高溫高濕kou罩老化箱，是以高溫高濕對(duì)樣品進(jìn)行老化試驗(yàn),，在相對(duì)溫度和濕度的恒定及循環(huán)下,，檢測(cè)樣品的性能是否達(dá)到可靠性指標(biāo)。其用途非常廣泛,，航空航天,，電子電氣，汽車元器件,，天線,，LED，各大高校及科研院所,。

高溫高濕kou罩老化箱,，主要以溫度和濕度對(duì)3M,4C,OP,和ES等kou罩進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試熔噴bu性能是否能達(dá)到可靠性指標(biāo),。

試驗(yàn)表明,，在高溫小于100℃和濕度小于98%的條件下，kou罩能接受20多次的高溫高濕循環(huán)測(cè)試,，而性能沒有下降,，對(duì)熔噴bu的過濾性能，也沒有造成損壞,，3M,、4C、OP,、ES等kou罩,，在高溫85℃、及不同濕度的條件下,，經(jīng)過幾十次的高溫及濕度循環(huán)下,，基本上都保持了穩(wěn)定的表現(xiàn)。而浸泡,，次氯酸鈉,，肥皂水，清洗,，酒精等液體,，噴灑在kou罩上,，都會(huì)降低kou罩的過濾效果，因?yàn)槿蹏奲u的靜電被破壞了,。所以選擇高溫高濕kou罩老化箱,，是對(duì)kou罩老化*的設(shè)備。

內(nèi)箱尺寸：500*750*600（寬*高*深）

溫度范圍：60℃~150℃

濕度范圍：75%~98%RH

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

GJB150.3-2009高溫試驗(yàn)

GJB150.4-2009低溫試驗(yàn)

GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件,；

GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,；

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫（IEC 60068-2-1:2007,IDT）;

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：低溫（IEC 60068-2-1:2007,IDT）；

GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab 恒定濕熱試驗(yàn)（IEC 60068-2-78:2012,IDT）;

GB/T 2423.4-2008 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab 交變濕熱（12h+12h循環(huán)（IEC 60068-2-30:2005,IDT）;

GB/T 2423.22-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化（IEC 60068-2-14:2009,，IDT）,；

GJB 150.3-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn)；

GJB/T 150.4-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn),；

GJB/T 150.9-86 軍用設(shè)備環(huán)境曬云方法 第8部分 濕熱試驗(yàn),。

電源：380V