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| 應用領域 | 環(huán)保,食品,化工,石油,電子 |
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使用 4200A-SCS 加快半導體設備,、材料和工藝開發(fā)的探索,、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)性能參數(shù)分析儀,，提供同步電流-電壓 （I-V）、電容-電壓 （C-V） 和超快脈沖 I-V 測量,。
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀
大膽發(fā)現(xiàn)從未如此容易,。 4200A-SCS 參數(shù)分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能,。 另外,，嵌入式測量專業(yè)知識（業(yè)界）可提供測試指南并讓您對結果充滿信心。
特點
- 內(nèi)置測量視頻采用英語,、中文,、日語和韓語
- 使用數(shù)百個用戶可修改應用測試開始您的測試
- 自動實時參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖,、算數(shù)函數(shù)
測量,、 切換、 重復,。
4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換,，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產(chǎn)品不同,，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,，可快速完成測試設置，并在出現(xiàn)意想不到的結果時輕松排除故障,。
特點
- 無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端
- 用戶可配置低電流功能
- 個性化輸出通道名稱
- 查看實時測試狀態(tài)
檢定,、 自定義、 大化,。
簡單地說，4200A-SCS 可以*自定義且全面升級,，您可以對半導體設備,、新材料、有源/無源組件,、晶片級可靠性,、故障分析、電化學或幾乎任何類型的樣本執(zhí)行電氣檢定和評估,。
特點
- NBTI/PBTI 測試
- 隨機電報噪聲
- 非易失內(nèi)存設備
- 穩(wěn)壓器應用測試
帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案,。
4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 Cascade MicroTech,、Lucas Labs/Signatone,、MicroManipulator、Wentworth Laboratories,、LakeShore Model 336 低溫控制器,。
特點
- “點擊”測試定序
- “手動”探測器模式測試探測器功能
- 假探測器模式無需移除命令即可實現(xiàn)調(diào)試
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了解詳情
Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀
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