您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
| 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
太陽能膜厚納米厚度測量儀
自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)
Filmetrics F50 系列的產(chǎn)品能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度。一個電動R-Theta 平臺可接受標(biāo)準(zhǔn)和客制化夾盤,，樣品直徑可達(dá)450毫米,。(耐用的平臺在我們的量產(chǎn)系統(tǒng)能夠執(zhí)行數(shù)百萬次的量測!)
測繪圖案可以是極座標(biāo)、矩形或線性的,，您也可以創(chuàng)造自己的測繪方法,，并且不受測量點數(shù)量的限制。內(nèi)建數(shù)十種預(yù)定義的測繪圖案,。
不同的 F50 儀器是根據(jù)波長范圍來加以區(qū)分的,。 標(biāo)準(zhǔn)的 F50是的產(chǎn)品。 一般較短的波長 (例如,， F50-UV) 可用于測量較薄的薄膜,，而較長的波長則可以用來測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜,。
依靠F50良好的光譜測量系統(tǒng),，可以很簡單快速地獲得大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動平臺，可以非?？焖俚亩ㄎ凰铚y試的點并測試厚度,，測試非常快速,，大約每秒能測試兩點,。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。F50系統(tǒng)配置高精度使用壽命長的移動平臺,，確保能夠做成千上萬次測量,。
系統(tǒng)中預(yù)設(shè)了許多極坐標(biāo)形、方形和線性的圖形模式,，也可以編輯自己需要的測試點,。只需掌握基本電腦技術(shù)便可在幾分鐘內(nèi)建立自己需要的圖形模式。
太陽能膜厚納米厚度測量儀
