LDJD-C型硅油介電常數(shù)測量儀——航天偉創(chuàng)

LDJD-C型介電常數(shù)及介質損耗測試儀為160Hzi介電常數(shù)測試儀,，該儀器采用多種*技術，包括自動化測量,、全參數(shù)液晶顯示,、DDS數(shù)字直接合成的信號源等技術。

優(yōu)化使測試回路殘余電感減至低,，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑,。

主要技術參數(shù)如下：

1. 信號源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz

2. 信號源頻率精度3×10^-5 ±1個字, 6位有效數(shù)字；信號頻率覆蓋比11000：1,；采樣精度12BIT（高精度A/D采樣）,；

3．Q值測量范圍：1～1000自動/手動量程；Q值分辨率0.1,，4位有效數(shù)字,；Q值測量工作誤差＜5%,；

4．Q值量程分檔：30、100,、300,、1000、自動換檔或手動換檔,；

5．電感測量范圍：1nH～140mH,，分辨率0.1nH，自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能,；

6．電容直接測量范圍：1pF～25nF,，分辨率0.1pF，準確度 150pF以下±1pF,；150pF以上±1%,；                                      

7．主電容調節(jié)范圍： 17～240pF（一體鍍銀成型，精度高）,；帶步進馬達,，電容自動搜索；                                        

8． 材料測試厚度：0.1mm~10mm,；

9． 合格指示預置功能范圍：5～1000,；

10．LCD顯示參數(shù)F，L,，C,，Q，Lt,，Ct波段等,；

11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：約25W,；電源：220V±22V,，50Hz±2.5Hz。

13.（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質損耗因數(shù)tanδ測試裝置：

數(shù)顯式微桿,，平板電容器：

極片尺寸： 38mm

極片間距可調范圍：≥15mm

夾具插頭間距：25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

測微桿分辨率：0.001mm

測試極片：材料測量直徑Φ38mm厚度可調 ≥ 15mm

*液體杯：測量極片直徑 Φ38mm,； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm

14. 電感組LKI-1：

分別由0.05μH,、0.1μH、0.5μH,、2.5μH,、10μH、50μH,、100μH,、1mH,、5mH、10mH十個電感組成,。

北京航天偉創(chuàng)設備科技有限公司還生產其他型號介電常數(shù)儀,，型號如下：

 LDJD-A型介電常數(shù)及介質損耗測試儀  10kHz～70MHz  

 LDJD-B型介電常數(shù)及介質損耗測試儀  10kHz～110MHz

 LDJD-C型介電常數(shù)及介質損耗測試儀  100kHz～160MHz

LDJD-C型硅油介電常數(shù)測量儀——航天偉創(chuàng)