顆粒外觀缺陷檢測掃描設(shè)備介紹

掃描分析異色料子，包括黑粒,、雜色粒等異色粒子

掃描分析異形粒子,，包括大小粒、蛇皮粒等等異形粒子

掃描分析異色異形粒子,，MP-C1和MP-V1功能結(jié)合體設(shè)備,。

顆粒外觀缺陷檢測儀MP-C1/V1（彩色攝影機）是Mcroptik公司專為塑料聚合物工業(yè)開發(fā)的，也是為了滿足原材料供應(yīng)商對產(chǎn)品質(zhì)量的要求提高MP-C1異色分析設(shè)定20微米到200微米之間是攝影機像素的標準配置,。它每小時可以處理出2公斤甚至到60公斤重的透明和不透明的粒子,，當(dāng)然是取決于被檢產(chǎn)品顆粒的規(guī)格和材料  MP-C1/V1這一款的粒子掃描系統(tǒng)，我們把電腦與攝影機系統(tǒng)的連接線長度預(yù)留在3米,。然后設(shè)定以分辨率在20微米的標準開始,，在測試50微米，然后100微米到最后200微米等10個規(guī)格（客戶也可以自定義）,。根據(jù)測量結(jié)果我們得到以下一組數(shù)據(jù),，并作為技術(shù)參數(shù)。

顆粒外觀缺陷檢測MP-V1異形分析設(shè)定30微米到1000微米之間是攝影機像素的標準配置,。它每小時可以處理2公斤甚至到60公斤重的透明和不透明的粒子,，當(dāng)然是取決于被檢產(chǎn)品顆粒的規(guī)格和材料。MP-V1這一款的粒子掃描系統(tǒng),，我們把電腦與攝影機系統(tǒng)的連接線長度預(yù)留在3米,。然后設(shè)定以分辨率在30微米的標準開始，最后10000微米等10個規(guī)格（客戶也可以自定義）根據(jù)測量結(jié)果我們得到以下一組數(shù)據(jù),，并作為技術(shù)參數(shù),。

顆粒外觀缺陷檢測技術(shù)指標、芯片彩色攝影機設(shè)定攝影機的像素：1936x1216像素,，像素尺寸Pixel size：4.5um,。
（1）20um起
USB 3CMOS
161f/s
18W
LED強光源（含測試臺背景輔助光源）
:19寸長
500x600x500mm（長,、寬、高）
/功率：約在230V/110V:380VA
45公斤