多導(dǎo)毛細(xì)聚焦鍍層測厚儀：

多導(dǎo)毛細(xì)聚焦鍍層測厚儀XRF應(yīng)用多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)，輕松應(yīng)對超小測量點(diǎn)薄涂層和極薄涂層的測量分析,，在柔性電路板,、芯片封裝環(huán)節(jié)、晶圓微區(qū)的鍍層厚度和成分自動測試分析中盡顯優(yōu)勢,。XAD-μ多導(dǎo)毛細(xì)聚焦XRF應(yīng)用多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù),，輕松應(yīng)對超小測量點(diǎn)薄涂層和極薄涂層的測量分析,，在柔性電路板、芯片封裝環(huán)節(jié),、晶圓微區(qū)的鍍層厚度和成分自動測試分析中盡顯優(yōu)勢主要利用X射線全反射原理,，從X射線管激發(fā)出來的X射線束在毛細(xì)玻璃管的內(nèi)壁以全反射的方式進(jìn)行傳輸，利用毛細(xì)玻璃管的彎曲來改變X射線的傳輸方向,，從而實(shí)現(xiàn)X射線匯聚,，同時(shí)將X射線的強(qiáng)度增加2～3個(gè)數(shù)量級

主要利用X射線全反射原理，從X射線管激發(fā)出來的X射線束在毛細(xì)玻璃管的內(nèi)壁以全反射的方式進(jìn)行傳輸,，利用毛細(xì)玻璃管的彎曲來改變X射線的傳輸方向,，從而實(shí)現(xiàn)X射線匯聚，同時(shí)將X射線的強(qiáng)度增加2～3個(gè)數(shù)量級,。

儀器的高集成光路系統(tǒng)的基礎(chǔ)上,，搭配多導(dǎo)毛細(xì)管 實(shí)現(xiàn)極小面積或極薄鍍層的高速、精確,、穩(wěn)定的測量,，聚焦直徑可小至10μm

? 多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)，可產(chǎn)生比準(zhǔn)直器機(jī)構(gòu)強(qiáng)千倍的信號強(qiáng)度

? 多導(dǎo)毛細(xì)管將激發(fā)光束非常高強(qiáng)度的集中在一個(gè)的小光斑上,，從而顯著縮短測量時(shí)間

? 在測量納米級Au厚度或薄膜層厚度及成分時(shí),，滿足微小光斑、短測量時(shí)間的同時(shí),，測量效果