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電路板維修過程中的幾個(gè)問題有哪些

一、帶程序的芯片

1,、EPROM芯片一般不宜損壞,。因這種芯片需要紫外線才能擦除掉程序，故在測試中不會(huì)損壞程序,。電路板維修廠家介紹：因制作芯片的材料所致,，隨著時(shí)間的推移（年頭長了），即便不用也有可能損壞（主要指程序）,。所以要盡可能給以備份,。
2、EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片,，均極易破壞程序,。這類芯片是否在使用<測試儀>進(jìn)行VI曲線掃描后,，是否就破壞了程序，還未有定論,。盡管如此,，同仁們?cè)谟龅竭@種情況時(shí)，還是小心為妙,。筆者曾經(jīng)做過多次試驗(yàn),，可能大的原因是：檢修工具（如測試儀，電烙鐵等）的外殼漏電所致,。
3,、對(duì)于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來。

二,、復(fù)位電路

1,、待修電路板上有大規(guī)模集成電路時(shí)，應(yīng)注意復(fù)位問題
2,、在測試前最好裝回設(shè)備上,，反復(fù)開，關(guān)機(jī)器試一試,，以及多按幾次復(fù)位鍵

三,、功能與參數(shù)測試

1、<測試儀>對(duì)器件的檢測,，僅能反應(yīng)出截至區(qū),，放大區(qū)和飽和區(qū)。但不能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等
2,、同理對(duì)TTL數(shù)字芯片而言,，也只能知道有高低電平的輸出變化，而無法查出它的上升與下降沿的速度

四,、晶體振蕩器

1,、電路板維修廠家介紹通常只能用示波器（晶振需加電）或頻率計(jì)測試，萬用表等無法測量,，否則只能采用代換法了
2,、晶振常見故障有：a、內(nèi)部漏電,，b,、內(nèi)部開路，c,、變質(zhì)頻偏,，d、外圍相連電容漏電。這里漏電現(xiàn)象,，用<測試儀>的VI曲線應(yīng)能測出
3,、整板測試時(shí)可采用兩種判斷方法：a、測試時(shí)晶振附近既周圍的有關(guān)芯片不通過,，b,、除晶振外沒找到其它故障點(diǎn)
4、晶振常見有2種：a,、兩腳,，b、四腳,，其中第2腳是加電源的,，注意不可隨意短路

五、故障現(xiàn)象的分布

1,、電路板故障部位的不完quan統(tǒng)計(jì)：
1）芯片損壞30％
2）分立元件損壞30％
3）連線（PCB板敷銅線）斷裂30％
4）程序破壞或丟失10％（有上升趨勢）
2,、由上可知，當(dāng)待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時(shí),，又沒有好板子,，既不熟悉它的聯(lián)線，找不到原程序,，此板修好的可能性就不大了。