名   稱：光學(xué)鍍膜橢偏儀

型   號(hào)：ME-L 

品   牌：頤光

光學(xué)鍍膜橢偏儀在手機(jī)蓋板中的應(yīng)用

光學(xué)鍍膜就好比女士化妝，不僅可使玻璃蓋板,、背板更漂亮,，也可以起到抗氧化、耐酸堿等作用,，所以在如今這個(gè)“看臉”的時(shí)代,，蓋板的光學(xué)鍍膜是非常重要的，目前常見(jiàn)的包括AR,、AF,、AG及后蓋顏色膜等鍍膜應(yīng)用。

 光學(xué)鍍膜橢偏儀蓋板光學(xué)鍍膜痛點(diǎn)分析

1,、AR膜透過(guò)率不合格NG

2,、顏色膜調(diào)色困難，周期長(zhǎng),。

3,、量產(chǎn)過(guò)程產(chǎn)品不穩(wěn)定，存在色差,。

橢偏儀在光學(xué)鍍膜各階段的作用

造成蓋板光學(xué)鍍膜產(chǎn)品不良的主要因素在于：

A,；仿真設(shè)計(jì)調(diào)用材料折射率與鍍膜生產(chǎn)中實(shí)際材料折射率不符。

B,；鍍膜設(shè)備實(shí)際鍍層厚度與膜系設(shè)計(jì)要求不符,。

C；量產(chǎn)過(guò)程對(duì)鍍膜設(shè)備穩(wěn)定性/均勻性缺乏有效評(píng)估手段,。

橢偏儀可以有效測(cè)量修正上述影響因子,，為蓋板量產(chǎn)保駕護(hù)航。

1：膜系設(shè)計(jì)——膜層實(shí)際折射率的標(biāo)定

★鍍膜實(shí)際折射率的影響因素：供氧量,、真空度,、電子槍光斑大小,、溫度等

★橢偏儀可直接測(cè)量獲得薄膜材料的光學(xué)常數(shù)和薄膜厚度，因此通過(guò)鍍膜機(jī)在Si襯底或玻璃襯底上鍍單層SiO2,、TiO2,、Nb2O5、In薄膜,，可直接準(zhǔn)確測(cè)量獲得薄膜的光學(xué)常數(shù),。

★通過(guò)調(diào)整鍍膜機(jī)參數(shù)，以橢偏儀測(cè)量獲得的單層SiO2,、TiO2,、Nb2O5、In薄膜光學(xué)常數(shù)為反饋,，將薄膜材料光學(xué)常數(shù)調(diào)整至狀態(tài),。此時(shí)對(duì)應(yīng)的鍍膜機(jī)參數(shù)即為厚度鍍膜時(shí)所需設(shè)定的終參數(shù)。

2：工藝研發(fā)——鍍膜設(shè)備tolling校正

★通常來(lái)說(shuō),，鍍膜機(jī)通過(guò)晶振來(lái)控制鍍膜厚度,，而實(shí)際上由于這種晶振式膜厚儀的精度不足，導(dǎo)致實(shí)際鍍膜厚度與設(shè)定鍍膜厚度存在較大偏差,。在鍍膜機(jī)中,，可通過(guò)工具因子（Tooling值）控制鍍膜機(jī)的蒸鍍速率，進(jìn)而可對(duì)實(shí)際鍍膜厚度進(jìn)行調(diào)控,。

★橢偏儀可以準(zhǔn)確測(cè)量獲得薄膜的厚度,，因此可用于校正鍍膜機(jī)的工具因子（Tooling值），使實(shí)際鍍膜厚度與設(shè)定鍍膜厚度*,。

3,；量產(chǎn)監(jiān)控——實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)各項(xiàng)鍍膜指標(biāo)

★鍍膜膜厚是否在設(shè)計(jì)范圍。

★材料折射率有無(wú)顯著波動(dòng),。

★透過(guò)率是否滿足工藝需求,。

★色度值是否滿足工藝需求。

★反射率是否滿足工藝需求,。

光學(xué)鍍膜橢偏儀售后服務(wù)：

1,、廠家貨源正品

   貨源有保障，可以根據(jù)客戶不同測(cè)試需求,，提供不同測(cè)試方案,。

2、關(guān)于售后

   4小時(shí)電話響應(yīng),，24小時(shí)內(nèi)安排上門服務(wù)。終生維護(hù),。

3,、關(guān)于發(fā)貨

   到款4-5天內(nèi)到貨,，江蘇、深圳區(qū)域第二天可以到貨,。