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XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀,,既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能,又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析,,搭載全自動平臺實(shí)現(xiàn)XYZ軸編...
鍍層測厚儀:多元迭代的EFP算法充分運(yùn)用各種已知條件及譜圖,,參與運(yùn)算出更多使用者需求的檢測結(jié)果,,關(guān)聯(lián):已知、未知及半定量,,成分,、密度、輕元素,、有機(jī)物,、化合物等等...
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