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全新上照式設(shè)計,，微聚焦，搭載可編程自動位移平臺,，無人值守,，自動檢測多樣品，且更加智能化,，采用自主研發(fā)的AI影像識別功能可完成智能尋點,，自動匹配測試。對各超大異形件及微小密集多點的測試更加高校,，智能,。
變焦裝置及位置補償算法，可對各種異形凹槽進行無損檢測,，凹槽深度范圍0-90Mm.微焦X射線裝置,，搭載微聚焦X射線發(fā)生器和先進的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，最小測量面積達0.002mm2.自主研發(fā)的EFP算法,，Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準測量,。測量速度快,，效率高，一鍵測試,，各部件置入下位機控制,，搭載可編程自動化移動平臺，移動精度微米級,，一次編程坐標存儲無人值守檢測成百上千個樣品,。
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