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X射線熒光光譜儀教程

時(shí)間：2025/2/10閱讀：527

化學(xué)成分分析的方法主要有化學(xué)分析，物理分析,。其中物理分析越來越受到研究者的關(guān)注,，其具有幾個(gè)特點(diǎn)：

1.不破壞樣品成分，

2.絕大部分的物理分析的區(qū)域很小

3.儀表面分析方法為主

4.分析速度快,，靈敏度高,。常見的物理分析方法包括X射線熒光光譜（XRF）等離子發(fā)射光譜（ICP）原子吸收光譜（AAS）原子熒光光譜法（AFS）和電子探針分析（EPMA）

XRF分析測試技術(shù)已經(jīng)在地質(zhì)，冶金,，電子機(jī)械,，石油，航空航天材料,，生物,，生態(tài)環(huán)境等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。

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