供應(yīng)
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Agilent 7850 ICP-MS質(zhì)譜儀 詳細(xì)摘要:Agilent 7850 ICP-MS 是建立在數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新和成功商業(yè)應(yīng)用基礎(chǔ)上,,儀器內(nèi)置上百個(gè)傳感器并配合直觀的軟件功能,是全新一代智能化 ICP-MS 系統(tǒng),。
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安捷倫Cary3500紫外可見分光光度計(jì) 詳細(xì)摘要:創(chuàng)新的Agilent Cary 3500 紫外-可見分光光度計(jì)具有優(yōu)異的光度測(cè)量性能和眾多*的測(cè)量功能,,將為您的實(shí)驗(yàn)室?guī)碜兏铩H碌脑O(shè)計(jì)理念,,旨在有效簡化您的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)并增強(qiáng)測(cè)試結(jié)果的可靠性。
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UH5700-日立紫外可見近紅外分光光度計(jì) 詳細(xì)摘要:1.190~3300nm的寬波長,,支持紫外-可見-近紅外區(qū),,滿足更多測(cè)定需求。 2.秉承日立優(yōu)異的光柵制造技術(shù),,使用具有日立蝕刻衍射光柵,,衍射效率高,散射光量低,,極大提高測(cè)光范圍,。 3.自動(dòng)可變狹縫設(shè)計(jì),根據(jù)樣品在不同波長處的光量自動(dòng)設(shè)定狹縫,,實(shí)現(xiàn)紫外-可見-近
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F-4700-日立熒光分光光度計(jì) 詳細(xì)摘要:日立熒光分光光度計(jì)F-4700是在前代機(jī)型F-4600的基礎(chǔ)上更新升級(jí),,基本性能得到了進(jìn)一步提升。靈敏度和波長掃描速度是選擇熒光分光光度計(jì)的兩個(gè)重要因素,,F(xiàn)-4700與前代機(jī)型相比,,靈敏度和掃描速度分別提高了1倍。與此同時(shí),,F(xiàn)-4700 采用長壽命氙燈,,與前代機(jī)型使
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EEM View-日立熒光分布成像系統(tǒng) 詳細(xì)摘要:為熒光分光光度計(jì)的配件系統(tǒng),,這是將相機(jī)與熒光分光光度計(jì)的結(jié)合,融合了智能算法的先進(jìn)技術(shù),。能夠同時(shí)獲取樣品圖像和光譜信息,。
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NexION® 5000-珀金埃爾默多重四極桿等離子體質(zhì)譜儀ICP-MS 詳細(xì)摘要:NexION 5000是業(yè)界多重四極桿ICP-MS,由四組四極桿組成,,其性能超越了傳統(tǒng)的三重四極桿技術(shù),,無論是在背景等效濃度還是在檢出限,NexION 5000都比傳統(tǒng)的三重四極桿有數(shù)量級(jí)上的改善,。
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EXSTARTG/DTA6000系列-日立綜合熱分析儀TG/DTA 詳細(xì)摘要:精工是水平雙臂式TG/DTA技術(shù)的,,EXSTAR系列TG/DTA以其性能及出色的性價(jià)比贏得了包括清華大學(xué)、北京大學(xué),、中科院,、索尼、普利斯通等國內(nèi)外眾多用戶的青睞及好評(píng),,可以通過檢測(cè)每一步的樣品質(zhì)量損失來完成分解溫度,、組分分析、可燃性,、氧化穩(wěn)定性,、相轉(zhuǎn)變溫度及
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PY-ASI-賽多利斯酸度計(jì)電極PB-10/PB-21 詳細(xì)摘要:Satorius賽多利斯原裝電極,型號(hào)為PY-ASI,,適合于酸度計(jì)PB-10和PB-21,,UB-7和UB-10,帶溫度探頭的三合一復(fù)合電極,,酸度計(jì)PH電極,,原裝*,安全耐用,。
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PY-ASI-賽多利斯酸度計(jì)電極UB-7/UB-10 詳細(xì)摘要:Satorius賽多利斯原裝電極,,型號(hào)為PY-ASI,適合于酸度計(jì)PB-10和PB-21,,UB-7和UB-10,,帶溫度探頭的三合一復(fù)合電極,酸度計(jì)PH電極,,原裝*,,安全耐用。
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日立FT160鍍層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要:FT160配置部件,,可以提供精細(xì)結(jié)構(gòu)上的超薄鍍層的元素分析,。毛細(xì)管聚焦光學(xué)鏡能聚焦直徑小于30μm的X射線束,從而在樣品上集中更大強(qiáng)度且其可測(cè)量的部件尺寸小于傳統(tǒng)準(zhǔn)直器可測(cè)量的部件尺寸。高靈敏度,、高分辨率日立分析儀器硅漂移探測(cè)器(SDD)充分利用光學(xué)系
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FT110A-日立鍍層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要:束XRF涂層厚度和材料分析儀,,方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測(cè)試,在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),?;赬-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法,提供易于使用,、快速和無損的分析,,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體
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X-Strata920-日立X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要:微束XRF涂層厚度和材料分析儀,,方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測(cè)試,,在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)?;赬-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法,,提供易于使用、快速和無損的分析,,幾乎不需要樣本制備,,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固
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EA1000VX-日立分析X射線熒光分析儀 詳細(xì)摘要:概要:對(duì)應(yīng)環(huán)境限制物質(zhì)管理、可快速且簡單測(cè)量有害物質(zhì)的X射線熒光分析儀,。
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日立手持XRF土壤重金屬分析儀 詳細(xì)摘要:手持式X光熒光分析儀(HHXRF)的X-MET8000系列提供進(jìn)行快速的合金等級(jí)鑒定及多種材料(固體和粉末金屬,、聚合物、木材,、溶液,、土壤、礦石,、礦物等)的準(zhǔn)確化學(xué)結(jié)構(gòu)分析所需的性能,。 X-MET方便、耐用且使用簡單,,可為您提供可靠的結(jié)果。
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Lab-X5000 日立臺(tái)式X射線熒光光譜儀 詳細(xì)摘要:XRF 分析(X射線熒光)與高度靈活和強(qiáng)大的能量色散X射線熒光 (EDXRF) 光譜儀 X-Supreme8000 和 Lab-X5000,,在各種應(yīng)用中保證質(zhì)量和過程控制要求,;例如原油和汽油、木材處理,、礦物,、采礦、化妝品,、水泥和紙張,。
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X-Supreme8000-日立臺(tái)式X射線熒光光譜儀 詳細(xì)摘要:XRF 分析(X射線熒光)與高度靈活和強(qiáng)大的能量色散X射線熒光 (EDXRF) 光譜儀 X-Supreme8000 和 Lab-X5000,在各種應(yīng)用中保證質(zhì)量和過程控制要求;例如原油和汽油,、木材處理,、礦物、采礦,、化妝品,、水泥和紙張。
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X-MET8000-手持式X射線熒光光譜儀 詳細(xì)摘要:手持式X光熒光分析儀(HHXRF)的X-MET8000系列提供進(jìn)行快速的合金等級(jí)鑒定及多種材料(固體和粉末金屬,、聚合物,、木材、溶液,、土壤,、礦石、礦物等)的準(zhǔn)確化學(xué)結(jié)構(gòu)分析所需的性能,。 X-MET方便,、耐用且使用簡單,可為您提供可靠的結(jié)果,。
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New STA系列-日立New STATG-DSC熱分析儀 詳細(xì)摘要:New STA系列新增了能夠確保天平部位溫度恒定的新結(jié)構(gòu),,消除了受加熱爐溫度變化影響而導(dǎo)致的微小重量誤差,讓基線穩(wěn)定性水平遠(yuǎn)超日立原有產(chǎn)品,。在加熱爐內(nèi)未放置試樣的狀態(tài)下,,從室溫加熱至1,000℃,重量變動(dòng)幅度僅在10µg以下,。此外,,日立為滿足客戶
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日立新款DSC系列差示掃描熱量計(jì) 詳細(xì)摘要:我們的DSC(差示掃描量熱儀)被廣泛用于材料表征。 例如熔點(diǎn),,玻璃化轉(zhuǎn)變,,結(jié)晶。 DSC600被廣泛用于包括聚合物,,制藥,,化學(xué),石油和天然氣,,食品和金屬等行業(yè)的質(zhì)量控制和研發(fā),。 日立的DSC具有靈敏度和基線平坦度,從而提供更精確的試驗(yàn),,并能評(píng)價(jià)最微小的反
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日立手持式 LIBS 激光光譜儀—Vulcan 詳細(xì)摘要:Vulcan 是一款耐用且分析速度極快的合金分析儀,。扣扳機(jī)后一秒即會(huì)顯示結(jié)果,。且產(chǎn)品使用激光誘導(dǎo)擊穿光譜技術(shù) (LIBS),,您無需擔(dān)心X射線的影響,。無論您的業(yè)務(wù)是廢料分選還是 PMI 質(zhì)量控制,Vulcan 始終提供準(zhǔn)確且一致的合金牌號(hào),。
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