日本理學(xué)智能X射線衍射儀SmartLab SE技術(shù)參數(shù)

1、X射線發(fā)生器功率為3KW

2,、測角儀為水平測角儀

3、角儀半徑300mm

4,、測角儀配程序式可變狹縫

5,、最小步徑0.0001度

6,、CBO交叉光路,，提供聚焦光路及高強(qiáng)度高分辨平行光路（帶Mirror）

7,、高速探測器D/teX Ultra250（0維，1維模式）

8,、半導(dǎo)體陣列2維探測器HyPix400(0維,、1維,、2維模式)

7,、載從控制測量到分析結(jié)果的SmartLab Studio II軟件包

8、視頻觀察系統(tǒng)

9,、豐富的各種附件

日本理學(xué)智能X射線衍射儀SmartLab SE主要特點(diǎn)

1,、SmartLab家族中的最新成員SmartLab SE。

2,、使用SmartLab Studio II軟件,，可以一鍵式得到從選擇條件、測量,、到分析,、結(jié)果報(bào)告的所有結(jié)果，不需要任何經(jīng)驗(yàn),，就可以得到高質(zhì)量的分析結(jié)果,。

3、智能X射線衍射儀SmartLabSE系列,，可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個領(lǐng)域,。

4、可以分析的材料包括：金屬材料,、無機(jī)材料,、復(fù)合材料,、有機(jī)材料、納米材料,、超導(dǎo)材料

5,、可以分析的材料狀態(tài)包括：粉末樣品、塊狀樣品,、薄膜樣品,、微區(qū)微量樣品

主要的應(yīng)用有：

1. 粉末樣品的物相定性與定量分析

2. 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小

3. 確定晶系,、晶粒大小與畸變

4. Rietveld定量分析

5. 薄膜樣品分析,，包括薄膜物相、多層膜厚度,、表面粗糙度,，電荷密度

6.小角散射與納米材料粒徑分布

7. 微區(qū)樣品的分析

儀器介紹

智能X射線衍射儀SmartLab SE系列，是當(dāng)今高性能的多功能的X射線衍射儀,，它采用了理學(xué)的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng),、智能的測量分析SmartLab Studio II軟件，一臺儀器可以智能進(jìn)行普通粉末樣品,、液體樣品,、納米材料、藥品,、半導(dǎo)體,、薄膜樣品測試。