詳細(xì)介紹
一,、日立熒光分布成像系統(tǒng)(EEM View)簡介
作為熒光分光光度計的配件系統(tǒng),,這是將相機(jī)與熒光分光光度計的結(jié)合,融合了智能算法的*技術(shù),。能夠同時獲取樣品圖像和光譜信息,。
新型熒光分布成像系統(tǒng)可安裝到日立F-7000/71000熒光分光光度計的樣品倉內(nèi)。入射光經(jīng)過積分球漫反射后均勻照射到樣品,,利用熒光光度計標(biāo)配的熒光檢測器可以獲得樣品熒光光譜,積分球下方的CMOS相機(jī)可獲得樣品圖像,,并利用*的AI光譜圖像處理算法,,可以同時得到反射和熒光成分圖像。
二,、 日立熒光分布成像系統(tǒng)(EEM View)特點:
1. 可以全面測定樣品的光譜數(shù)據(jù)(反射光,、熒光特性)
在不同光源條件下(白光和單色光)拍攝樣品圖像,(區(qū)域:Φ20mm,、空間分辨率:0.1 mm左右,、波長范圍:360-700nm),同時利用*的光譜算法,,分別顯示熒光圖像和反射圖像, 根據(jù)圖像可獲得不同區(qū)域的光譜信息(熒光光譜,、反射光譜)
熒光分布成像系統(tǒng)軟件分析(EEM View Analysis)界面(樣品:LED電路板)
2. 樣品安裝簡單,適用于各種樣品測試
樣品只需擺放到積分球上,,安裝十分簡單,!
豐富的樣品支架
支持精確測量的校正工具
熒光分布成像系統(tǒng)是一種全新的技術(shù),將它配置到熒光分光光度計中,,改變了常規(guī)熒光光度計只能獲得樣品表面區(qū)域平均化信息的現(xiàn)狀,,可以查看樣品圖像任意區(qū)域的光譜信息,十分適合涂料,、材料,、油墨,、LED、化工等領(lǐng)域,。