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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 內(nèi)尺寸 | 800*800*800 |
|---|---|---|---|
| 溫度范圍 | -50~＋150℃ | 溫變范圍 | -40~＋80℃ |
| 控溫方式 | 水冷 |
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
線性快速溫度變化試驗箱廣泛應(yīng)用于：芯片，微電子器件,，集成電路,、閃存Flash、 傳感器,、小型模塊組件光通訊,、航空航天新材料等性能分析、高低溫溫變測試,、失效分析等可靠性試驗,。
快速溫變試驗是用來確定產(chǎn)品在高溫、低溫快速或緩慢變化的氣候環(huán)境下的存儲,、運輸,、使用的適應(yīng)性。試驗過程是以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個循環(huán),，溫度循環(huán)試驗的嚴苛程度是以高(低溫度范圍,、停留時間以及循環(huán)數(shù)來決定。
線性快速溫度變化試驗箱的測試方法：
GB/T 10589- 2008低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10592- 2008高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2- 1低溫試驗方法
GB/T 2423.2- 2008/IEC 60068- 2-2高溫試驗方法
GB/T 2423.3- 2008/IEC 60068- 2-78 恒定濕熱試驗方法
GB/T 2423.4- -2008/IEC 60068 2- 30交變濕熱試驗方法
GB/T 2423.22- 2008/IEC 60068- 2- 14溫度變化速率試驗方法
GJB 150.3A- 2009高溫試驗方法
GJB 150.4A-2009低溫試驗方法
GJB 150.9A-2009濕熱試驗方法
GB/T 5170.2- 2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備
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