品質部用冷熱循環(huán)試驗箱適用于電子電器零組件,、通訊組件、自動化零部件,、汽車配件,、化學材料、金屬,、塑膠等行業(yè),、航天、國防工業(yè)、BGA,、兵工業(yè),、PCB基扳、電子芯片IC,、半導體陶磁及高分子材料之物對高,、低溫的反復抵拉力及產品處于熱脹冷縮的物理環(huán)境產出的化學變化或物理傷害，可確認各種產品的品質,從精密的IC到重機械的組件,，無一不需要它,目前此設備是工業(yè)產業(yè)共認的理想測試工具,。

品質部用冷熱循環(huán)試驗箱執(zhí)行標準：

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件；

GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT),；

GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT),；

GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；

GJB 150.3-86 設備環(huán)境試驗方法 第3部分 高溫試驗,；

GJB/T 150.4-86 設備環(huán)境試驗方法 第4部分 低溫試驗,；

GJB/T 150.5-86 設備環(huán)境試驗方法 第5部分 溫度沖擊試驗。

技術參數:

1.內箱尺寸：W800mm*H800mm*D800mm(柳沁可根據顧客需要做出更多合適尺寸的設備）,。

2.外箱尺寸：以實際尺寸為標準。

3.高溫槽預熱溫度范圍：+60℃～200℃,。

4.升溫時間： +60℃～200℃≤30min,。

5.低溫槽預冷溫度范圍： -75～-10℃。

6.降溫時間： +20℃～-75℃≤60min,；﹙注：降溫時間為低溫槽單獨運轉時的性能）,。

7.試驗方式： 氣動風門切換。

8.溫度沖擊范圍： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚ ,。

9.溫度波動度： ±0.5℃ ,。

10.溫度偏差： ±2.0℃ 。

11.溫度恢復時間： ≤5分鐘,。

12.試樣限制：本實驗設備禁止易爆,、易燃、易揮發(fā)性物質試樣的試驗或儲存,；腐蝕性物質試樣的試驗或儲存,。