EDX2000A能量色散X熒光光譜儀(全自動微區(qū)膜厚測試儀)對平面,、凹凸、拐角,、弧面等各種簡單及復雜形態(tài)的樣品進行快速對焦分析,，滿足半導體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求,。通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動,，雙激光定位和保護系統(tǒng)。

半導體,、芯片及PCB電鍍鍍層測厚儀

 應用領域
電鍍行業(yè),、電子通訊、航天新能源,、五金衛(wèi)浴,、電器設備
汽車制造、磁性材料,、貴金屬電鍍,、高校及科研院所等

超高硬件配置
采用Fast-SDD探測器,高達129eV分辨率,能地解析每個元素的特征信號,針對復雜底材以及多層復雜鍍層,同樣可以輕松測試。
搭配大功率X光管,能很好的保障信號輸出和激發(fā)的穩(wěn)定性,減少儀器故障率,。
高精度自動化的X,、Y、Z軸的三維聯(lián)動,更快速地完成對微小異型(如弧形,、拱形,、螺紋、球面等)測試點的定位,。

設計亮點
上照式設計,，可適應更多異型微小樣品的測試。相較傳統(tǒng)光路,，信號采集效率提升2倍以上,。可變焦高精攝像頭，搭配距離補正系統(tǒng),，滿足微小產(chǎn)品,，臺階，深槽,，沉孔樣品的測試需求,。可編程自動位移平臺,，微小密集型可多點測試,，大大提高測樣效率。自帶數(shù)據(jù)校對系統(tǒng),。

軟件界面
人性化的軟件界面,，讓操作變得更加便捷。
曲線的中文備注,，讓您的操作更易上手,。
儀器硬件功能的實時監(jiān)控，讓您的使用更加放心,。