光譜型膜厚測(cè)試儀：俗稱X熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀,、膜厚儀,、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀,、電鍍膜厚儀,，電鍍層厚度分析儀，金屬鍍層測(cè)厚儀,，電鍍厚度測(cè)量儀,，電鍍厚度檢測(cè)儀,，連續(xù)度檢測(cè)儀，光譜鍍層測(cè)厚儀,，鍍層厚度分析儀,，鍍層測(cè)量儀，電鍍層分析儀等,；

功能：精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度,；

應(yīng)用范圍

測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成

測(cè)量范圍從22(Ti)到92(U);5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測(cè)試方法符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987

應(yīng)用群體主要集中在：電路板、端子連接器,、LED,、半導(dǎo)體、衛(wèi)浴潔具,、五金電鍍、珠寶飾,、汽車配件,、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及研究所和高等院校等；

原理：X射線熒光什么是X射線?X射線存在于電磁波譜中的一個(gè)特定區(qū)域,它由原子內(nèi)部電子躍遷產(chǎn)生,其波長范圍在0.1-100Å;能量大于100電子伏特.什么是X射線熒光?X射線熒光 是一個(gè)原子或分子吸收了特定能量的光子后釋放出較低能量的光子的過程

儀器介紹

光譜型膜厚測(cè)試儀

技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)：Thick 800A

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）,。

同時(shí)可以分析30種以上元素,，五層鍍層。

分析含量一般為ppm到99.9% ,。

鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型,。

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應(yīng)范圍為15℃30℃,。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光,，可自動(dòng)定位測(cè)試高度

定位激光確定定位光斑,，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊

鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)的位置就是被測(cè)點(diǎn)

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加

良好的射線屏蔽作用

測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔,。

精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng),。

雙激光定位裝置,。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測(cè)器,。

信號(hào)檢測(cè)電子電路,。

高低壓電源。

X光管,。

高度傳感器

保護(hù)傳感器

計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

應(yīng)用領(lǐng)域

,，鉑,，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè).

金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。

主要用于貴金屬加工和飾加工行業(yè),；銀行,，飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè),。

廠家介紹

西,、陜西西北片區(qū)，青海片區(qū),、東北三省片區(qū),。另外，除中國大陸以外片區(qū)香港,、中國臺(tái)灣及海外片區(qū),。公司通過電話等遠(yuǎn)程維護(hù)、上門服務(wù),、返廠維修以及對(duì)客戶使用人員的技術(shù)培訓(xùn)來實(shí)現(xiàn)技術(shù)的應(yīng)到和維護(hù),。

產(chǎn)品包括X射線熒光測(cè)厚儀，X熒光鍍層測(cè)厚儀,，x-ray膜厚儀,，鍍金鍍銀測(cè)厚儀，ROHS檢測(cè)儀,，直讀光譜儀,，手持式光譜儀，ROHS檢測(cè)設(shè)備,，手持式合金分析儀,，氣相質(zhì)譜儀，液相質(zhì)譜儀,，原子熒光光譜儀,，電感耦合等離子光譜儀，手持式光譜儀,，等離子體質(zhì)譜儀,， 鍍層膜厚測(cè)試儀，X熒光測(cè)厚儀,，ROHS儀器,，氣質(zhì)聯(lián)用儀，液質(zhì)聯(lián)用儀,，ROHS鹵素檢測(cè)儀,，x熒光光譜分析儀，手持式光譜分析儀,，x射線熒光測(cè)厚儀,，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,，液相質(zhì)譜聯(lián)用儀，便攜式合金分析儀,，ROHS測(cè)試儀,，x-ray鍍層測(cè)厚儀，環(huán)保ROHS檢測(cè)儀

公司的X熒光檢測(cè)技術(shù)具有快速,、,、無損的特點(diǎn)。X熒光分析儀可以應(yīng)用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的領(lǐng)域,，如：電子電器（RoHS檢測(cè)）,、珠寶飾（貴金屬及鍍層檢測(cè)）、玩具安全（EN71-3）,、建材(水泥,、玻璃、陶瓷),、冶金(鋼鐵,、有色金屬)、石油（微量元素S,、Pb等）、化工,、地質(zhì)采礦,、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)甚人體微量元素的檢驗(yàn)等等,。