X熒光膜厚儀產(chǎn)品介紹

是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產(chǎn)生低能量的光子,，俗稱為二次熒光，,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值,，一種無損,、快速、的膜厚測試儀器,，對金屬鍍層（鍍金、鍍錫,、鍍鋅,、鍍鋁、鍍鉛,、鍍銀,、鍍鎳等）,，廣泛應用于電路板、連接器,、金屬絲,、鏈接插件、引線框架,、汽車零部件,、半導體、電子產(chǎn)品,、五金工具等企業(yè)中,，打破了國外（例如：德國Fischer）壟斷局面，在電鍍行業(yè)占有 一定地位,，為企業(yè)提供有效解決方案,。

技術參數(shù)

工作穩(wěn)定性高，故障率低,。

多變量非線性回收程序

相互獨立的基體效應校正模型

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層（鍍金,、鍍錫、鍍鋅等）

一次可同時分析多達五層鍍層,，快速,、。

薄可測試0.005μm

分析含量一般為2ppm到99.9% 

鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

任意多個可選擇的分析和識別模型

度適應范圍為15℃30℃

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm

重量：90 kg

X熒光膜厚儀性能優(yōu)勢

鼠標可控制移動平臺,，鼠標的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可定位測試點,，重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑,，確保測試點與光斑對齊

檢測實例

銅鍍鎳樣品

測試譜圖