XRF元素分析儀Thick800A產品介紹：

是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量,、電鍍液和鍍層含量的測定,； 、鉑,、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測,。

XRF元素分析儀Thick800A性能優(yōu)勢：

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統(tǒng)
的圖像識別 
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施,，實現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式,，一鍵式操作!
開機自動退出自檢,、復位 
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺,，方便放樣 
關蓋推進樣品臺,，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接全景或局部景圖像選取測試點 
軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果

XRF元素分析儀Thick800A技術指標：

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素,，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm,，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩(wěn)定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低135eV
采用的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm,，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm,、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃～30℃