X光測厚儀Thick800A,天瑞儀器 1 分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度,，并達(dá)到測量精度要求,。
無損：
測試前后，樣品無任何形式的變化,。
直觀：
實(shí)時(shí)譜圖,，可直觀顯示產(chǎn)品測試點(diǎn)
簡易：
對人員技術(shù)要求較低，操作簡單方便,并且維護(hù)簡單方便,。
性價(jià)比高：
相比其他類類儀器,，X光測厚儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受,。

  X光測厚儀Thick800A,天瑞儀器應(yīng)用領(lǐng)域
X光測厚儀主要針對金屬鍍層（鍍金，鍍鎳,，鍍錫,，鍍鋅，鍍銅,，鍍銀，鍍銠,，鍍鈀等）厚度測試，廣泛應(yīng)用于線路板,、五金工具,，汽車配件，電子連接器,，高壓開關(guān),，衛(wèi)浴等企業(yè)中,，得到了客戶的廣泛應(yīng)用和認(rèn)可。

技術(shù)參數(shù)
重量：90 kg
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回收程序
工作穩(wěn)定性高
度適應(yīng)范圍為15℃30℃
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層
一次可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm

X光測厚儀的工作原理是利用x射線對金屬表面進(jìn)行激發(fā),，檢測熒光強(qiáng)度來換算成金屬表層的厚度的儀器,，可全自動軟件操作,，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn),，以及移動平臺,。X光測厚儀清晰明了,簡單易學(xué),，備受客戶青睞。
檢測實(shí)例
以下使用Thick800AX光測厚儀對銅鍍鎳樣品實(shí)際檢測Ni層厚度,，七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測試,，其測試位置如圖