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GEN3 Auto CAF2+離子遷移監(jiān)測系統(tǒng)設(shè)備

有效監(jiān)測離子遷移引致表面絕緣阻抗（SIR）變化及生成PCB內(nèi)層陽極導(dǎo)電絲（CAF）

一、GEN3 CAF2（1250V）用途：

根據(jù)IPC標(biāo)準(zhǔn)中有明確要求,，測試條款為IPC-TM-650 2.6.25 《Conductive Anodic Filament (CAF) Resistance》,。另外各大汽車零部件廠商如德爾福、博世,、大陸等也有其專門的企業(yè)測試標(biāo)準(zhǔn),，主要測試內(nèi)容就是將被測PCB板放置在85℃，85%RH的環(huán)境中處理1000小時(shí),，并在PCB板的孔與孔之間,、線與線之間，或者是孔與內(nèi)層之間,、層與層之間施加一定的電壓,，然后持續(xù)監(jiān)控其絕緣阻值變化，通過絕緣阻值變化了解其內(nèi)部可能存在的一系列問題,，而這種測試的缺陷就是板材內(nèi)部出現(xiàn)了CAF現(xiàn)象,。通過CAF測試可以基本了解具體是在哪個(gè)工藝環(huán)節(jié)可能產(chǎn)生了問題，從而進(jìn)一步工藝改善,。具體包括指導(dǎo)PCB設(shè)計(jì)人員選用合適的孔間距和線間距,；指導(dǎo)PCB制造商選用適合的耐CAF材料組合；指導(dǎo)PCB制造商改進(jìn)生產(chǎn)工藝,；指導(dǎo)CCL供應(yīng)商改進(jìn)材料配方和加工工藝,。

可根據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)要求條件和自定義條件進(jìn)行SIR，CAF測試,。

GEN3保持和IEC,，ISO，IPC,，BSI......等機(jī)構(gòu)學(xué)會(huì)的長期合作,，發(fā)展并訂立相關(guān)SIR測試協(xié)定，應(yīng)用于成品壽命可靠度,，材料和制程特性研究,。

GEN3 CAF2適用于：

IEC61189-5；ISO9455-17,；IPC-TM-650,；

BELLCORE GR78；DIN German & JIS Japanese STD,；ANS/IPC-JSTD001,；

IPS-JSTD-004；IPC-SM-840；IPC-CC-830&IEC 1086,；IPC-9691,；

ISO 19295:2016（E）Automotive.

二、GEN3 CAF2（1250V）測試原理：

三,、GEN3 CAF2（1250V）規(guī)格：

四,、關(guān)于CAF測試推薦配套：

根據(jù)CAF測試的標(biāo)準(zhǔn)中要求，需要將被測的-考試板放置在“80℃+85%RH"的環(huán)境中放置1000小時(shí),。故考慮到長時(shí)間的測試,，對配套的“試驗(yàn)箱"提出了要求，推薦使用-艾斯佩克GPR系列高低溫濕熱試驗(yàn)箱,。

金合博源，為您提供適用的CAF測試設(shè)備方案?。,。?/span>

JHBYTEK,，您身邊的測控專家?。?！