介質損耗測試儀TK3580

是一種*的測量介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器,，用于工頻高壓下,，測量各種絕緣材料,、絕緣套管、電力電纜,、電容器,、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗,，（tgδ）和電容容量（Cx）它淘汰了 QS 高壓電橋,，具有操作簡單、中文顯示,、打印,、使用方便、無需換算,、自帶高壓,、抗干擾能力強、測試時間（在國內同類產品中速度快）等特點,。體積小,、重量輕的第二代抗干擾介質損耗測試儀。 
介質損耗測試儀主要技術指標
      1,、環(huán)境溫度：0 ～ 40℃（液晶屏應避免長時日照）         
      2,、相對濕度：30% ～ 70% 
      3、供電電源：電壓：220V±10%,、頻率：50±1Hz 
      4,、外形尺寸：長×寬×高   500mm×300mm×400mm 
      5、重量：    約18Kg           
      6,、輸出功率：0.6KVA 
      7,、顯示分辯率：3位、4位（內部全是6位） 
      8,、測量范圍及輸出電壓選擇： 
                 介質損耗（tgδ）：±0.00～±999% 
                 試品電容容量（Cx）和加載電壓： 
                 2.5KV檔:≤300nF（300000pF）            3KV檔:≤200nF（200000pF） 
                 5KV檔:≤76nF（76000pF）                7.5KV檔:≤34nF（34000pF） 
                 10KV檔:≤20nF（20000pF） 
      9,、基本測量誤差： 
                 介質損耗（tgδ）：1%±7個字（加載電流20uA～500mA） 
                 介質損耗（tgδ）：2%±9個字（加載電流5uA～20uA） 
                 電容容量（Cx）：1.5%±1.5pF