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| 應用領域 | 綜合 |
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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
HT-391手持式四探針方阻測試儀參照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》,；GB/T 1551-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》；GB/T 1552-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》,，采集集成電路恒流源系統(tǒng)，可充電式電源系統(tǒng),，上下限設定,。
HT-391手持式四探針方阻測試儀功能介紹：
手持式外型結構，適用于車間生產(chǎn),、品管抽檢,，外出攜帶測量的場所；也適用于中小型半導體材料生產(chǎn)企業(yè).
HT-391手持式四探針方阻測試儀參數(shù)資料：
規(guī)格型號 | HT-391A | HT-391B | HT-391C |
1.方塊電阻范圍 | 10～2.00×102Ω/□ | 10～2.00×103Ω/□ | 10～2.00×104Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 1～2×103Ω-cm | 1～2×104Ω-cm | 1～2×105Ω-cm |
3.分辨率 | 0.01Ω | 0.01Ω | 0.01Ω |
4.顯示讀數(shù) | 液晶顯示：電阻率,、方阻,、單位換算、電流,、電壓,、探針形狀、探針間距,、厚度 | ||
5.測試方式 | 單電測量 | ||
6.工作電源 | 5V.1000mA | ||
7. 誤差 | ≤4.5%（標準樣片結果） | ||
8.選配 | 選配1.方形探頭,； 選配2.直線形探頭；探針間距,；選配3：探針間距1mm,；2mm；3mm三種規(guī)格; 選配4：探針材質：碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針 | ||
參數(shù)資料
規(guī)格型號 | HT-392A | HT-392B | HT-392C |
1.方塊電阻范圍 | 0.1～2.00×102Ω/□ | 0.1～2.00×103Ω/□ | 0.1～2.00×104Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 0.01～2×103Ω-cm | 0.01～2×104Ω-cm | 0.01～2×105Ω-cm |
3.分辨率 | 0.01Ω | 0.01Ω | 0.01Ω |
4.顯示讀數(shù) | 液晶顯示：電阻率,、方阻,、單位換算、電流,、電壓,、探針形狀、探針間距,、厚度 | ||
5.測試方式 | 單電測量 | ||
6.工作電源 | 5V.1000mA | ||
7. 誤差 | ≤4.5%（標準樣片結果） | ||
8.選配 | 選配1.方形探頭,； 選配2.直線形探頭；探針間距,；選配3：探針間距1mm,；2mm；3mm三種規(guī)格; 選配4：探針材質：碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針 | ||
HT-393系列手持式方塊電阻測試儀
技術參數(shù)資料
規(guī)格型號 | HT-393A | HT-393B | HT-393C |
1.方塊電阻范圍 | 0.01～2.00×102Ω/□ | 0.01～2.00×103Ω/□ | 0.01～2.00×104Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 0.001～2×103Ω-cm | 0.001～2×104Ω-cm | 0.001～2×105Ω-cm |
3.分辨率 | 0.001Ω | 0.001Ω | 0.001Ω |
4.顯示讀數(shù) | 液晶顯示：電阻率、方阻,、單位換算,、電流,、電壓,、探針形狀,、探針間距,、厚度 | ||
5.測試方式 | 單電測量 | ||
6.工作電源 | 5V.1000mA | ||
7.誤差 | ≤4.5%（標準樣片結果） | ||
8.選配 | 選配1.方形探頭,； 選配2.直線形探頭,；探針間距,；選配3：探針間距1mm；2mm,；3mm三種規(guī)格; 選配4：探針材質：碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針 | ||
HT-394系列手持式四探針電阻率測試儀
技術參數(shù)資料
規(guī)格型號 | HT-394A | HT-394B | HT-394C |
1.方塊電阻 | 0.001～2.00×102Ω/□ | 0.001～2.00×103Ω/□ | 0.001～2.00×104Ω/□ |
2.電阻率 | 0.0001～2×103Ω-cm | 0.0001～2×104Ω-cm | 0.0001～2×105Ω-cm |
3.分辨率 | 0.001Ω | 0.001Ω | 0.001Ω |
4.顯示讀數(shù) | 液晶顯示：電阻率,、方阻、單位換算,、電流,、電壓、探針形狀,、探針間距,、厚度 | ||
5.測試方式 | 單電測量 | ||
6.工作電源 | 5V.1000mA | ||
7.誤差 | ≤4.5%（標準樣片結果） | ||
8.選配 | 選配1.方形探頭； 選配2.直線形探頭,；探針間距,；選配3：探針間距1mm；2mm,；3mm三種規(guī)格; 選配4：探針材質：碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針 | ||
適用范圍：
1.覆蓋膜;導電高分子膜,，高、低溫電熱膜;隔熱,、導電窗膜 導電(屏蔽)布,、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽,、合金類箔膜;熔煉,、燒結、濺射,、涂覆,、涂布層，電阻式,、電容式觸屏薄膜;電極涂料,，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試
2.硅晶塊,、晶片電阻率及擴散層,、外延層、ITO導電箔膜,、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓,、太陽能電池、電子元器件,，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等）,，金屬膜，導電漆膜,，蒸發(fā)鋁膜,，PCB銅箔膜，
3.EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆,，導電性糊狀物,，導電性塑料，導電性橡膠,，導電性薄膜,，金屬薄膜，
4.抗靜電材料,， EMI 防護材料,，導電性纖維，導電性陶瓷等,，
功能描述：
1. 四探針單電測量方法
2. 液晶顯示,，自動測量，自動量程,，自動系數(shù)補償.
3. 集成電路系統(tǒng),、恒流輸出.
4. 提供中文或英文兩種語言操作界面選擇
參照標準：
1.硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）.
2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.
3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.
4.GB/T 1552-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》