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HT-361低阻雙電阻四探針測(cè)試儀

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更新時(shí)間:2021-07-01 13:55:22瀏覽次數(shù):562

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應(yīng)用領(lǐng)域 綜合
HT-361低阻雙電阻四探針測(cè)試儀可以測(cè)試到1uΩ方阻值, 恒流輸出,、液晶顯示、自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量,、雙電組合測(cè)試方法,,提供中文或英文語(yǔ)言版本,。可以用于抗靜電材料,, EMI 防護(hù)材料,,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等測(cè)試,。

詳細(xì)介紹

HT-361低阻雙電阻四探針測(cè)試儀可以測(cè)試到1uΩ方阻值, 恒流輸出,、液晶顯示、自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量,、雙電組合測(cè)試方法,,提供中文或英文語(yǔ)言版本??梢杂糜诳轨o電材料,, EMI 防護(hù)材料,導(dǎo)電性纖維,,導(dǎo)電性陶瓷等測(cè)試,。

 

HT-361低阻雙電阻四探針測(cè)試儀功能概述:

1.  可以測(cè)試到1uΩ方阻值

2.  恒流輸出

3.  液晶顯示

4.  自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量

5.  雙電組合測(cè)試方法.

6.  提供中文或英文語(yǔ)言版本.

7.  PC軟件運(yùn)行.

 

適用范圍:

1.覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,,高,、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布,、裝飾膜,、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉,、燒結(jié),、濺射、涂覆,、涂布層,,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,,其他半導(dǎo)體材料,、薄膜材料方阻測(cè)試

2.硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層,、外延層,、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓,、太陽(yáng)能電池,、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),,金屬膜,,導(dǎo)電漆膜,,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,,

3.EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆,,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,,導(dǎo)電性橡膠,,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,,

4.抗靜電材料,, EMI 防護(hù)材料,導(dǎo)電性纖維,,導(dǎo)電性陶瓷等

 

應(yīng)用說(shuō)明:

四探針?lè)y(cè)試的 導(dǎo)電性新材料,、鋁箔、銅箔等具有類(lèi)似性質(zhì)要求測(cè)量的材料.

 

技術(shù)參數(shù):

規(guī)格型號(hào)specification model

HT-361A

HT-361B

1.方塊電阻范圍sheet resistance

10-6~2×102Ω/□

10-6~2×105Ω/□

2.電阻率范圍resistivity

10-7~2×103Ω-cm

10-7~2×106Ω-cm

3.測(cè)試電流范圍test current

1A,、100mA,、10mA、1mA,、100uA,、10uA、1uA,、0.1uA

4.電流精度current accuracy

±0.1%

5.電阻精度resistance accuracy

≤0.3%

6.顯示讀數(shù)display

液晶顯示:電阻,、電阻率、方阻,、溫度,、單位換算、溫度系數(shù),、電流,、電壓、探針形狀,、探針間距,、厚度 、電導(dǎo)率LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity

7.測(cè)試方式test mode

組合雙電測(cè)試方法combined double electric test method

8.工作電源working power

輸入: AC 220V±10%.50Hz功 耗:<30W

9.誤差errors

≤4%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果)(standard samples)

10.選購(gòu)功能choose to buy

選購(gòu)1.pc軟件,; 選購(gòu)2.方形探頭,; 選購(gòu)3.直線形探頭; 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái),;5.標(biāo)準(zhǔn)電阻1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform

11.測(cè)試探頭test probe

探針間距選購(gòu): 2mm,;3mm兩種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu):碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm,;2mm,;3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles.

 

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