X 射線熒光鍍層測厚及成分分析儀器返回列表頁

舉報評價

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號EDX-V

品牌SKYRAY/天瑞儀器

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地深圳市

在線詢價加入對比查看聯(lián)系電話

更新時間：2025-05-16 15:25:06瀏覽次數(shù)：105次

聯(lián)系我時,，請告知來自化工儀器網(wǎng)

產(chǎn)品分類品牌分類

鍍層厚度測試儀: 鍍層測厚儀鍍層膜厚儀鍍層檢測儀

全部產(chǎn)品列表

產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	價格區(qū)間	面議
應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,能源,電子/電池,電氣,綜合

產(chǎn)品說明,、技術(shù)參數(shù)及配置
EDX-V是天瑞儀器集30多年X熒光膜厚測量技術(shù),研發(fā)的一款X射線熒光鍍層測厚及成分分析儀,。儀器采用多導(dǎo)毛細(xì)管X射線光學(xué)系統(tǒng),對于微米級尺寸電子零件,、芯片針腳,、晶圓微區(qū)等部件的鍍層厚度和成分分析,能進(jìn)行高效,、準(zhǔn)確的測量,。

詳情介紹

天瑞儀器 EDX-V 是一款 X 射線熒光鍍層測厚及成分分析儀,，以下是其詳細(xì)介紹1：

技術(shù)原理

采用多導(dǎo)毛細(xì)管 X 射線光學(xué)系統(tǒng)，利用 X 射線熒光原理,，當(dāng) X 射線照射到樣品上時,，樣品中的元素會被激發(fā)產(chǎn)生特征 X 射線熒光，通過檢測這些熒光的能量和強(qiáng)度來分析鍍層的成分和厚度,。

性能優(yōu)勢

近光路系統(tǒng)：結(jié)合鍍層行業(yè)微小樣品檢測需求,，研發(fā)適用于鍍層檢測的超近光路系統(tǒng)，減少能量過程損耗,。
聚焦技術(shù)：搭載先進(jìn)的多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦管,，聚焦強(qiáng)度提升 1000 - 10000 倍，具有更高的檢測靈敏度,、分析精度和高計數(shù)率,，保證測試結(jié)果精確穩(wěn)定,。
相機(jī)設(shè)計：全景 + 微區(qū)雙相機(jī)設(shè)計，呈現(xiàn)全高清廣角視野,，樣品觀察更全面,，微米級別分辨率，滿足超微產(chǎn)品測試,。
毛細(xì)管技術(shù)：先進(jìn)的多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù),，信號強(qiáng)度比金屬準(zhǔn)直系統(tǒng)高出幾個數(shù)量級，還有多規(guī)格可選的多導(dǎo)毛細(xì)管,，滿足用戶不同測試需求,。
移動平臺與定位系統(tǒng)：高精度 XYZ 軸移動測試平臺，結(jié)合雙激光點(diǎn)位定位系統(tǒng),，可實現(xiàn)在樣品測試過程中的全自動化,，一鍵點(diǎn)擊，測試更省心,。

應(yīng)用領(lǐng)域

測量超微小部件和結(jié)構(gòu)：如印制線路板,、連接器或引線框架等。
分析超薄鍍層：如厚度薄至 2nm 的 Au 鍍層和≤30nm 的 Pd 鍍層,。
測量電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層,。
分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)。
全自動測量：用于質(zhì)量控制領(lǐng)域,。
符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：符合 ENIG/ENEPIG 要求,，以及 DIN ISO 3497、ASTM B568,、IPC 4552 和 IPC 4556 標(biāo)準(zhǔn),。