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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類(lèi) | 實(shí)驗(yàn)室型 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),地礦,能源 |
產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
智能式硅酸根分析儀
GXF-221型智能式硅酸根分析儀是火力發(fā)電廠,、核發(fā)電廠,、石油,、化工等行業(yè)對(duì)其化學(xué)除鹽水、鍋爐給水,、蒸汽,、凝結(jié)水中硅酸根（SiO2）含量測(cè)定以及純水制備過(guò)程中水質(zhì)監(jiān)測(cè)的*儀表。測(cè)定方法依據(jù)GB12150-89“鍋爐用水和冷卻水分析方法——硅的測(cè)定 硅鉬藍(lán)光度法”,。
本系列儀器可對(duì)檢測(cè)過(guò)程中是否存在干擾進(jìn)行判斷,，具有錯(cuò)誤信息提示以保證采樣數(shù)據(jù)有效?？蓪?duì)采樣數(shù)據(jù)利用程序進(jìn)行分析處理,，提高了測(cè)量精確度，并將測(cè)量值存儲(chǔ)及自動(dòng)打印輸出,。儀器還具有自診斷功能,。
GXF-221型硅酸根分析儀技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍：0~200.0μg/SiO2
基本誤差：≤±2.0%FS
重復(fù)性誤差：≤±0.5%FS
短期漂移（60分鐘）：≤±0.5%FS
長(zhǎng)期漂移(24小時(shí))：≤±2.0%FS
化學(xué)方法：硅鉬蘭光度法GB 12150—89
電源/功率：220V/45W
外型尺寸：長(zhǎng)×寬×高：430×415×160（mm）
重量：11kg
數(shù)顯式硅酸根分析儀 型號(hào)：GXF-215C
GXF-215C型數(shù)顯式硅酸根分析儀是火力發(fā)電廠、核發(fā)電廠,、石油,、化工等行業(yè)對(duì)其化學(xué)除鹽水、鍋爐給水,、蒸汽,、凝結(jié)水中硅酸根（SiO2）含量測(cè)定以及純水制備過(guò)程中水質(zhì)監(jiān)測(cè)的儀表。測(cè)定方法依據(jù)GB12150-89“鍋爐用水和冷卻水分析方法——硅的測(cè)定“(硅鉬藍(lán)光度法)”,。
本系列儀器具有不工作時(shí)的待機(jī)功能,，對(duì)光源采取了有效的保護(hù)，可以連續(xù)的運(yùn)行在現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境,。檢測(cè)元件的恒溫環(huán)境使得儀器的穩(wěn)定性更具保證,。
技術(shù)指標(biāo)：
型號(hào) | GXF-215B硅酸根分析儀 (高精度) | GXF-215C硅酸根分析儀 |
測(cè)量范圍 | 0~50.0μg/LsiO2 | 0~199.9μg/LSiO2 |
基本誤差 | ≤±2.0μg/L | ≤±2.5%FS |
重復(fù)性誤差 | ≤±0.2μg/L | ≤±0.5%FS |
短期漂移 （30分鐘） | ≤±0.2μg/L | ≤±0.5%FS |
長(zhǎng)期漂移 (24小時(shí)） | ≤±2.0μg/L | ≤±2.5%FS |
化學(xué)方法 | 硅鉬蘭光度法 GB 12150—89 | |
數(shù)顯式高精度硅酸根分析儀（電廠專(zhuān)用）
GXF-215B型硅酸根分析儀是火力發(fā)電廠、核發(fā)電廠,、石油,、化工等行業(yè)對(duì)其化學(xué)除鹽水、鍋爐給水,、蒸汽,、凝結(jié)水中硅酸根（SiO2）含量測(cè)定以及純水制備過(guò)程中水質(zhì)監(jiān)測(cè)的儀表。測(cè)定方法依據(jù)GB12150-89“鍋爐用水和冷卻水分析方法——硅的測(cè)定 硅鉬藍(lán)光度法”,。
本系列儀器具有不工作時(shí)的待機(jī)功能,，對(duì)光源采取了有效的保護(hù)，可以連續(xù)的運(yùn)行在現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境,。檢測(cè)元件的恒溫環(huán)境使得儀器的穩(wěn)定性更具保證,。
本系列儀器具有不工作時(shí)的待機(jī)功能,，對(duì)光源采取了有效的保護(hù)，可以連續(xù)的運(yùn)行在現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境,。檢測(cè)元件的恒溫環(huán)境使得儀器的穩(wěn)定性更具保證,。
技術(shù)指標(biāo)：
型號(hào) | GXF-215B硅酸根分析儀 (高精度) | GXF-215C硅酸根分析儀 |
測(cè)量范圍 | 0~50.0μg/LsiO2 | 0~199.9μg/LSiO2 |
基本誤差 | ≤±2.0μg/L | ≤±2.5%FS |
重復(fù)性誤差 | ≤±0.2μg/L | ≤±0.5%FS |
短期漂移 （30分鐘） | ≤±0.2μg/L | ≤±0.5%FS |
長(zhǎng)期漂移 (24小時(shí)） | ≤±2.0μg/L | ≤±2.5%FS |
化學(xué)方法 | 硅鉬蘭光度法 GB 12150—89 | |