應用背景
該文章翻譯于Fraunhofer CSP和Diagnostics and Metrology Solar Cells division等機構共同研究的工作,。
電勢誘導衰減(PID效應)普遍存在于晶體硅太陽能電池中,通常是由鈉離子產生分流效應引起的,,傳統(tǒng)太陽能電池已經開發(fā)出標準的PID測試條件,。利用Freiburg Instruments開發(fā)的PIDcon設備,我們研究了標準化PID測試程序是否適用于各種結構和成分的鈣鈦礦太陽能電池,,結果發(fā)現(xiàn)盡管鈣鈦礦材料與硅基電池結構有明顯差異,,但PID測試結果顯示了它們對PID效應的抗性能力,表明標準化PID測試對鈣鈦礦太陽能電池仍有檢測效果,這對于開發(fā)光伏(PV)模塊至關重要,。
分析過程
選用Fraunhofer ISE(樣本A)和Saule Technologies(樣本B)的兩組不同樣本,,來解決標準化測試是否能預測鈣鈦礦模塊的長期穩(wěn)定性,它們的成分和結構有很大差異,,如圖1和圖2所示,。
圖 1.示意圖顯示 (a) 鈣鈦礦-硅串聯(lián)模塊的各層(來自ISE),其中頂部電池為鈣鈦礦,,底部電池由硅異質結制成,,(b) 模塊的封裝結構,以及 (c) 模塊的實際圖片
圖 2.(a)鈣鈦礦模塊層示意圖(來自Saule),,(b)模塊的實際圖片,。
在本研究中,利用Freiburg Instruments開發(fā)的PIDcon Bifacial設備進行標準PID測試,,并使用Sinus 220 Wavelabs儀器對兩種模塊的電學特性進行分析,。表1列出了PIDcon Bifacial的技術規(guī)格,圖3顯示了測試順序,。
圖3.測試序列圖,。
數(shù)據(jù)分析
我們評估了兩組樣品初始階段、PID測試1小時后和PID測試3小時后模塊的情況,。這些值已根據(jù)樣品的Voc和Isc進行歸一化處理,。無論電壓偏置極性如何,在PID測試的一個小時后,,電池的填充因子(FF)都會明顯上升,。正PID測試在接下來的三個小時內保持較高的FF水平,但負PID測試會略微降低FF值,。PID測試之前,,“F"類型的樣品平均FF為64.0%。PID測試后,,FF略有下降,,約為1.1%,Voc則增加約2.6%,。PID測試后,“O"類型的樣品FF明顯增加,,約為2.5%,。
圖 4. (a) 正PID應力(1kV, 60°C)下Pero-Si-Tandem模塊上的cell_4的J-V曲線,(b)負PID應力(-1 kV, 60°C)下同一模塊上的cell_4的J-V曲線,。在電壓偏置極性不同的PID測試之間,,將樣品儲存在黑暗的氮氣盒中。
圖 5.兩個不同樣品 (a)“F"和 (b)“O"(樣品組B,不同的前體成分)在PID測試(1 kV,、60°C,、4小時)之前和之后的J-V曲線。
實驗結論
該實驗表明,,標準化PID測試可成功地應用于鈣鈦礦太陽能電池的檢測,,并揭示了對應力條件對電池填充因子的一系列響應。通過改變電壓偏置的極性可成功區(qū)分了溫度引起的效應和電壓引起的效應,。這些發(fā)現(xiàn)強調需要進一步研究以優(yōu)化測試方法并減輕PSC中潛在的衰減機制,。通過對鈣鈦礦太陽能電池進行PID標準化測試可以不僅有助于評估電池的長期可靠性、揭示性能衰減機制,、優(yōu)化設計和封裝材料選擇,,還能推動技術進步并保障光伏系統(tǒng)的整體性能。
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