論文來源：K. Sporleder et al., Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells
部分摘要：
雙面 PERC 電池背面PID會導(dǎo)致嚴(yán)重的功率損失。與單面 PERC 太陽能電池相比,，可以發(fā)生可逆的去極化相關(guān)電位誘導(dǎo)衰退（PID-p）和不可逆的腐蝕電位誘導(dǎo)衰退（PID-c）,。研究表明，一個可靠的評估太陽能電池功率損失的方法需要一種改進(jìn)的 PID 測試方法,，需要在高壓測試上附加光照,。此外，還需要在測試方案中加入恢復(fù)步驟來將可逆 PID-p 與不可逆 PID-c 造成損傷的區(qū)分開來,。退化程度和 PID-p 和 PIC-c 的貢獻(xiàn)敏感地依賴于所研究的太陽能電池,。因此，在雙面 PERC 電池的 PID 測試方案中需包括 PID 高壓期間的附加光照和恢復(fù)步驟,。
相對于每個單獨模塊的初始狀態(tài),，背面Isc 值的變化情況
比較 1 個太陽和0.1 個太陽的 I–V 測量，可以觀察到,，這兩種方法之間有很強的數(shù)量相關(guān)性,。觀察到的參數(shù)變化與用于 I–V 測量的光照強度無關(guān)。
采用 0.1 太陽光源的測試裝置可同樣適用于 PID 階段和表征階段,。A （優(yōu)化電池）模塊和 S（標(biāo)準(zhǔn)電池） 模塊之間的另一個明顯區(qū)別是恢復(fù)行為,。對于 A 模塊，Isc 值在恢復(fù)步驟中幾乎恢復(fù)（上圖右中的黑色和紅色條）,。這意味著,，所觀察到的 A 模塊背面的衰退大部分是可逆的，因此與PID-p 有關(guān),。與此相反,，S 模塊在恢復(fù)階段只顯示很小的 Isc 參數(shù)的變化。因此,，在這種情況下,，PID 幾乎是不可逆的，與 PID-c 有關(guān),。
綜上所述,，電位誘導(dǎo)衰退（PID）對雙面太陽能電池的背面有很大的影響。有兩種不同的PID 機制,， 可逆極化相關(guān) PID-p 和不可逆腐蝕相關(guān) PID-c,。一個PID測試與4小時總測試時間適合于評估微型模塊的背面PID靈敏度以及區(qū)分可逆PID- p 和不可逆 PID-c。
PID 測試流程需要滿足兩個條件：首先,，測試過程同時需要實施光照,，以防止 PID 結(jié)果的過高或過低估計。第二,，需要一個恢復(fù)步驟來區(qū)分 PID-c 和 PID-p,。雖然 PID-p 敏感單元可以通過在光伏電站施加反向電壓來恢復(fù)，對 PID-c 敏感的太陽能電池將遭受永遠(yuǎn)不可逆的功率損失,。因此,，我們需要一種能夠測試雙面電池PID的相應(yīng)設(shè)備，結(jié)合所需的高壓測試條件和原位 PID 的跟蹤技術(shù),，滿足以上各種實驗條件的需求,。
更多文獻(xiàn)信息，請查閱：
K. Sporleder et al., Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells
https://www.sciencedirect,。,。ｃｏｍ/science/article/abs/pii/S0927024820303548?via=ihub
弗萊貝格儀器與德國Fraunhofer CSP公司合作開發(fā)了一種可作為商業(yè)應(yīng)用的臺式太陽能電池和微型模塊的電勢誘導(dǎo)衰退控制的測量解決方案（PIDcon bifacial）。
臺式雙面電池PID測試儀：
● 根據(jù)IEC 62804-TS標(biāo)準(zhǔn)方法
● 易于使用的臺式設(shè)備
● 夠測量c-Si太陽能電池和微型模塊
● 無需氣候室
● 不需要電池層壓
● 測量速度：4小時(一般)
● 可測量參數(shù)：分流電阻,、功率損失,、電導(dǎo)率,、泄漏電流、濕度和溫度
● 太陽能電池可以通過EL等進(jìn)行研究
● 基于IP的系統(tǒng)支持在世界任何地方進(jìn)行遠(yuǎn)程操作和技術(shù)支持
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