傳統(tǒng)的X射線熒光光譜儀(XRF)分析時(shí)要求制樣均勻,既熔片,、壓片,、金屬塊或液體等,。
但如果遇到不均勻的樣品或?qū)μ厥鈽悠返哪骋粎^(qū)域感興趣時(shí),傳統(tǒng)的分析就無(wú)法滿足需求了,。
這時(shí)需要進(jìn)行微區(qū)分析,,也就是針對(duì)小尺寸樣品或樣品某一特定區(qū)域進(jìn)行定性、定量或元素分布分析,。
傳統(tǒng)的微區(qū)分析方法包括:
?—掃描電鏡(SEM)
?—激光剝離等離子質(zhì)譜(LA-ICPMS)
?—帶毛細(xì)管聚焦的能量色散X射線熒光光譜儀等
?但這些分析手段或多或少的都存在一些局限:
—分析樣品尺寸小
?—靈敏度一般
?—精度不夠
—?以及有的會(huì)對(duì)樣品造成破壞等等
?而波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀(WDXRF)的微區(qū)分析則很好地解決了這些問題:
?—憑借HighSenseTM技術(shù)和市面同等儀器小尺寸準(zhǔn)直器面罩(300μm),,第二代S8 TIGER能對(duì)小到0.3mm并可選1.25mm的微小區(qū)域開展高靈敏度的元素定性、定量,、無(wú)標(biāo)樣定量及元素分布分析,,步長(zhǎng)0.1mm。
?—輕元素采用正比探測(cè)器,,重元素采用閃爍探測(cè)器,,靈敏度提高10倍,實(shí)現(xiàn)了同級(jí)別儀器里真正的微區(qū)分析,。
?—此外,,高清攝像頭能夠?qū)Ω信d趣區(qū)域拍攝圖片,保證微區(qū)分析的針對(duì)性和重現(xiàn)性,。
它可以在科研(地質(zhì),、材料科學(xué))和質(zhì)量控制(電子、材料科學(xué),、鍍層)上給予我們幫助,,可以分析不均勻的地質(zhì)、生物樣品或進(jìn)行技術(shù)產(chǎn)品的監(jiān)控(CIS/CIGS 太陽(yáng)能電池),,它還可以對(duì)小顆?;?qū)е庐a(chǎn)品不合格的異物(聚合物、玻璃,、金屬等產(chǎn)品的問題判斷)進(jìn)行確認(rèn)等等,。
應(yīng)用實(shí)例:
1
分析隕石
▲來(lái)自美國(guó)亞利桑那州巴林杰隕石坑“Canyon Diablo”的鐵鎳隕石
2
分析化石
▲鸚鵡螺化石
3
分析礦物
▲鈮鉭鐵礦
4
分析耐火材料
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