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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,綜合 |
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延遲探測器（Delayline Detectors）
延遲探測器（Delayline Detectors）具有出色的時間分辨率,、高達幾十MHz采樣和動態(tài)1D/2D /3D直方圖,，將微觀粒子分析提升到高速測量的新水平。如上圖,，微通道板探測器（MCP）提供了高性能電子,、離子及光子成像。如果應(yīng)用程序進行單事件分析,，則MCP的延遲探測器（Delayline Detectors）讀出是很好的選擇,，因為Delayline檢測器（DLD）能夠?qū)崿F(xiàn)真正的單事件計數(shù)，具有高信噪比和高時間分辨率,。
延遲探測器（Delayline Detectors）讀出在所有時間分辨MCP讀出系統(tǒng)中具有優(yōu)勢,，因為它們提供的時間切片圖像具有很高強度線性，時間窗口低至100ps以下,。
延遲探測器（Delayline Detectors）關(guān)鍵參數(shù)
| Active Diameters | 10mm - 120mm |
| Lateral Resolution | down to 50µm |
| Imaging Countrate (Permanent Random) | > 5 million counts/s |
| Imaging Countrate (Special Layouts) | > 20 million counts/s |
| Max. Burst Rate | up to 100 million counts/s equivalent |
| Multi-Hit Designs | >= 4 hits |
| High Voltage Floating Capability | up to 10kV |
| Time Bin Resolution | 6.8ps |
| Typical Time Resolution (Position Integrated) | < 200ps |
| Start Repetition Rate | max. 9MHz |
| Standard COMS | USB 3.0 & GBit LAN |
延遲探測器（Delayline Detectors）配置示意圖
延遲探測器（Delayline Detectors）應(yīng)用領(lǐng)域：
電子和離子的飛行時間分析（TOF）
時間相關(guān)或時間符合光子和粒子成像
用于X射線和電子能譜的門控成像
檢測尺寸達120mm的大面積計數(shù)成像(XPS, UPS, EELS)
電子能量和飛行時間分析儀(XPS, UPS, EELS)
飛行時間光電電子顯微鏡(ToF PEEM)
中能離子散射與飛行時間分析(MEIS - ToF)
原子探針斷層掃描/顯微鏡(APT, 3D-AP)
X射線吸收/發(fā)射光譜(XAS, XES)
門控對比增強X射線皮秒成像
熒光壽命成像(FLIM, FLIM- FRET)
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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