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當(dāng)前位置:上海富瞻環(huán)??萍加邢薰?/a>>>分析儀器>>粒度儀粉體設(shè)備>> SediGraph III Plus 5125全自動(dòng)X光沉降粒度分析儀

全自動(dòng)X光沉降粒度分析儀

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產(chǎn)品型號(hào)SediGraph III Plus 5125

品       牌micromeritics/麥克默瑞提克

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地上海市

更新時(shí)間:2024-11-08 19:57:22瀏覽次數(shù):320次

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 分散方式 干濕法分散
價(jià)格區(qū)間 面議 儀器種類 動(dòng)態(tài)光散射
應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥/生物制藥
SediGraph III Plus 5125
全自動(dòng)X光沉降粒度分析儀
可靠且成熟的粒度分析儀
在過去的 50 多年,是全球沉降粒度分析領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)
根據(jù)斯托克斯定律確定粒徑
粒徑分析時(shí)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)顆粒沉降過程并查看報(bào)告的粒徑結(jié)果
全自動(dòng)運(yùn)行并通過先進(jìn)的軟件界面實(shí)現(xiàn)控制
可選配 MasterTech 自動(dòng)進(jìn)樣器實(shí)現(xiàn)高通量測(cè)試
礦業(yè),、地質(zhì)和陶瓷等眾多主流行業(yè)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
符合 ASTM B761-0

SediGraph III Plus 5125

全自動(dòng)X光沉降粒度分析儀

可靠且成熟的粒度分析儀

  • 在過去的 50 多年,,是全球沉降粒度分析領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)

  • 根據(jù)斯托克斯定律確定粒徑

  • 粒徑分析時(shí)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)顆粒沉降過程并查看報(bào)告的粒徑結(jié)果

  • 全自動(dòng)運(yùn)行并通過先進(jìn)的軟件界面實(shí)現(xiàn)控制

  • 可選配 MasterTech 自動(dòng)進(jìn)樣器實(shí)現(xiàn)高通量測(cè)試

  • 礦業(yè)、地質(zhì)和陶瓷等眾多主流行業(yè)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

  • 符合 ASTM B761-06 和先進(jìn)陶瓷委員會(huì) C28 的要求


SediGraph III Plus 基于直接檢測(cè)質(zhì)量濃度確定粒度分布和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),,例如 D10,、D50 和 D90。 只需一鍵即可獲得基本和高級(jí)報(bào)告,。 SediGraph III Plus 可選配 MasterTech 自動(dòng)進(jìn)樣器,,連續(xù)監(jiān)測(cè)生產(chǎn)過程,,并將數(shù)據(jù)推送到網(wǎng)絡(luò)或云端以供遠(yuǎn)程訪問。

 

性能與優(yōu)點(diǎn):

智能設(shè)計(jì)特性

SediGraph III Plus 粒度分析儀先進(jìn)的設(shè)計(jì)確保了測(cè)量的重復(fù)性和使用的便利性,。 全新功能使得儀器的操作和維護(hù)更加輕松,,并且能夠確保對(duì)同一樣品在任意一臺(tái) SediGraphs 儀器上都能獲得可靠、重現(xiàn)的結(jié)果,。

 

設(shè)計(jì)改進(jìn)包括:

  • 完整的顆粒分析,,能夠確保對(duì)樣品中的所有顆粒進(jìn)行分析,包括粒徑小于 0.1 µm 的部分

  • 能夠與其他粒徑測(cè)量方法獲得的數(shù)據(jù)合并,,從而將數(shù)據(jù)報(bào)告范圍擴(kuò)展到 125000 µm (125 mm),,在地質(zhì)學(xué)方面有很好的應(yīng)用

  • 自下而上地掃描沉降池,能夠準(zhǔn)確地獲取快速沉降顆粒的總數(shù),,同時(shí)盡可能縮短細(xì)顆粒分離所需的時(shí)間

  • 全自動(dòng)操作模式能夠提高樣品分析通量,,并且減少人為操作步驟,以降低由人為操作造成的測(cè)量誤差

  • 溫控分析可確保在整個(gè)分析過程中液體的性質(zhì)保持恒定,,獲得精確的分析結(jié)果

  • 多種分析速度,,可根據(jù)實(shí)際需要選擇速度和分辨率

  • 實(shí)時(shí)顯示,能夠監(jiān)控當(dāng)前分析的累積質(zhì)量圖,,以便根據(jù)需求即時(shí)修正分析程序

  • 統(tǒng)計(jì)過程控制(SPC)報(bào)告能夠跟蹤過程性能,,便于立即對(duì)波動(dòng)變化作出響應(yīng)

  • 多圖疊加功能,能夠?qū)Ψ治鼋Y(jié)果進(jìn)行可視化比較,,例如,,與參考樣品或基線疊加,或?qū)⑼环治鰯?shù)據(jù)的兩種不同類型結(jié)果圖疊加

  • 數(shù)據(jù)比較圖,,能夠以圖表形式顯示兩組數(shù)據(jù)集之間的數(shù)學(xué)差(與參考樣品圖的差異)或某個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)值高于或低于容差范圍的程度(超標(biāo)圖)

  • 多分析儀控制,,允許使用同一臺(tái)計(jì)算機(jī)控制兩臺(tái) SediGraph ,節(jié)省寶貴的實(shí)驗(yàn)室空間,,方便數(shù)據(jù)存儲(chǔ)



規(guī)格

顆粒粒徑范圍:0.1 – 300 µm 當(dāng)量球徑
接觸液體材質(zhì):不銹鋼,、特氟龍浸漬陽極氧化鋁、鍍鎳鋁,、尼龍,、聚丙烯、聚苯乙烯,、聚乙烯和 Pharmed 管,、碳化鎢、超白鋼,、氟化橡膠,、橡膠 和環(huán)氧樹脂
樣品量:50 mL 分散的樣品 – 無需精確的濃度控制
分散劑:與樣品池材料兼容,且不吸收 X 光的液體(如水,、乙二醇,、礦物油,、SediSperse® 和乙醇)
電源要求:85 – 264 VAC,47/63 Hz,,450 VA
溫度:運(yùn)行環(huán)境溫度 + 10 °C 至 40 °C,;儲(chǔ)存或運(yùn)輸溫度范圍為 -10 °C 至 55 °C
濕度:20% 至 80%(無冷凝)
其他信息:ISO 9001 制造商 CE 認(rèn)證
實(shí)體規(guī)格:高度: 52 cm(20.5 英寸)
寬度: 50.5 cm(20 英寸)
深度: 58 cm(23 英寸)
重量: 43 kg(95 磅)






















技術(shù)

Micromeritics的 SediGraph 是全球眾多實(shí)驗(yàn)室粒度分析的標(biāo)準(zhǔn)儀器。 無論是在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境中還是在受控的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下,,SediGraph 憑借其的性能,,提供可靠準(zhǔn)確的結(jié)果。 該儀器采用X光沉降法測(cè)量粒度分布,,通過樣品對(duì) X 射線的吸收直接測(cè)量顆粒質(zhì)量,。 SediGraph根據(jù)斯托克斯定律,通過測(cè)量顆粒在已知特性的液體中的沉降速率,,能夠得出粒徑范圍在 0.1 – 300 µm間樣品顆粒的等效球徑,。

新一代 SediGraph III Plus 粒度分析儀結(jié)合成熟及改進(jìn)的分析技術(shù),能夠提供具備更高重復(fù)性和準(zhǔn)確度的顆粒粒徑信息,,大多數(shù)分析在幾分鐘內(nèi)即可完成,。

 

  • 完整的顆粒分析,能夠確保對(duì)樣品中的所有顆粒進(jìn)行分析,,包括粒徑小于 0.1 µm 的部分

  • 能夠與其他粒徑測(cè)量方法獲得的數(shù)據(jù)合并,,從而將數(shù)據(jù)報(bào)告范圍擴(kuò)展到 125000 µm (125 mm),在地質(zhì)學(xué)方面具有很好的應(yīng)用

  • 自下而上地掃描沉降池,,能夠準(zhǔn)確地獲取快速沉降的顆??倲?shù),同時(shí)盡可能縮短細(xì)顆粒分離所需的時(shí)間

  • 全自動(dòng)操作模式能夠提高樣品分析通量,,并且減少人為操作步驟,,以降低由人為操作造成的測(cè)量誤差

  • 溫控分析可確保在整個(gè)分析過程中液體的性質(zhì)保持恒定,獲取精確的分析結(jié)果

  • 多種分析速度,,可根據(jù)實(shí)際需要選擇速度和分辨率

  • 實(shí)時(shí)顯示,,能夠監(jiān)控當(dāng)前分析的累積質(zhì)量圖,,以便根據(jù)需求即時(shí)修正分析程序

  • 統(tǒng)計(jì)過程控制(SPC)報(bào)告能夠跟蹤過程性能,,便于立即對(duì)波動(dòng)變化作出響應(yīng)

  • 多圖疊加功能,能夠?qū)Ψ治鼋Y(jié)果進(jìn)行可視化比較,,例如,,與參考樣品或基線疊加,或者將同一分析數(shù)據(jù)的兩種不同類型結(jié)果圖疊加

  • 數(shù)據(jù)比較圖,,能夠以圖表形式顯示兩組數(shù)據(jù)集之間的數(shù)學(xué)差(與參考樣品圖的差異)或某個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)值高于或低于容差范圍的程度(超標(biāo)圖)

  • 多分析儀控制,,允許使用同一臺(tái)計(jì)算機(jī)控制兩臺(tái) SediGraph ,節(jié)省寶貴的實(shí)驗(yàn)室空間,,方便數(shù)據(jù)存儲(chǔ)


應(yīng)用

陶瓷:顆粒的粒度范圍和質(zhì)量分布極大影響陶瓷粉末的燒結(jié)能力,、成型性能乃至成品中的孔徑分布,。 顆粒粒度分布信息有利于檢測(cè)固化和粘合過程、控制孔結(jié)構(gòu),、確保足夠的生坯強(qiáng)度,,以獲取所需強(qiáng)度、質(zhì)構(gòu),、外觀和密度的最終產(chǎn)品,。

金屬粉末:通過控制粒度分布,能夠在產(chǎn)品中設(shè)計(jì)特定的孔結(jié)構(gòu),??紫堵侍匦酝ǔJ钱a(chǎn)品性能的關(guān)鍵。與陶瓷相似,,粒度分布對(duì)生坯,、最終產(chǎn)品強(qiáng)度和密度都至關(guān)重要。

地質(zhì)/土壤科學(xué):顆粒粒徑會(huì)影響土壤的保水能力,、排水速度和土壤保持養(yǎng)分的能力,。顆粒直徑關(guān)系到沉淀物的轉(zhuǎn)移。

化妝品:化妝品的外觀,、使用和包裝直接受基礎(chǔ)原料如滑石粉和著色劑顆粒粒度分布的影響,。

顏料:僅粒徑一項(xiàng)就會(huì)影響顏色的著色強(qiáng)度。 隨著著色強(qiáng)度的提高,,產(chǎn)生相應(yīng)顏色強(qiáng)度所需的顏料量相應(yīng)下降,。粒徑也會(huì)影響涂料的遮蓋力。同時(shí)粒徑分布也會(huì)影響光澤,、質(zhì)地,、顏色飽和度和亮度度。

催化劑:粒徑直接影響金屬對(duì)結(jié)構(gòu)敏感催化反應(yīng)的金屬催化活性,。

建筑材料:水泥的粒徑會(huì)影響成品混凝土和水泥的凝結(jié)時(shí)間和強(qiáng)度特性,。

礦物和無機(jī)化學(xué)品:材料的反應(yīng)性取決于暴露的表面積和粒度分布。

磨料:無論磨料顆粒和粉末是用于漿料,、干噴射處理或固結(jié)研磨工具,,這類材料均衡的粒度分布是基本的考慮因素。均勻的粒徑可確保通過噴砂機(jī)時(shí)精確的流速,,并且是研磨介質(zhì)循環(huán)使用的關(guān)鍵因素,。



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