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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
來自CRAIC的FLEX™是一款經(jīng)濟(jì)但功能齊全且配置靈活的儀器,，采用Lightblades™分光光度計,，結(jié)合了紫外-可見-近紅外光學(xué)系統(tǒng),，數(shù)字成像系統(tǒng)和軟件,，采用模塊化設(shè)計，使FLEX™成為一種強(qiáng)大而耐用的科學(xué)儀器,，可以對微米級的樣品點(diǎn)進(jìn)行無損的吸收,、反射和熒光光譜測試,。
憑借具有吸引力的價格,，F(xiàn)LEX™顯微分光光度計利用測試技術(shù)，可以測量微觀樣品區(qū)域的紫外 - 可見 - 近紅外范圍透射率,、吸光度,、反射率、發(fā)射光譜和熒光光譜,。當(dāng)光譜正在被采集時,，樣品可以與高分辨率彩色數(shù)字成像系統(tǒng)或目鏡同時成像，另外的特征還可以包括測量微觀樣品的折射率以及微量測定和薄膜厚度測量,。
FLEX™顯微分光光度計的設(shè)計旨在以吸引力的價格提供優(yōu)質(zhì)的圖像和光譜,。
應(yīng)用領(lǐng)域：
痕跡證據(jù)
法醫(yī)藥物化學(xué)
LED/ OLED彩色平板
半導(dǎo)體薄膜厚度
MEMS器件
表面等離子體共振
過程雜質(zhì)檢測
蛋白質(zhì)晶體
組合化學(xué)
FLEX™參數(shù)
| 光譜學(xué)類型 | 紫外-可見-近紅外吸光度，反射率,，熒光,，光致發(fā)光，偏振 |
| 顯微拉曼 | 可選Apollo II™ |
| 薄膜厚度 | ≥15nm |
| 微動力 | 可選 |
| 5D Mapping | 可選 |
| 微比色法 | 可選 |
| 光譜范圍 | 240-900nm |
| 成像范圍 | 高分辨率彩色 |
| 熒光激發(fā) | 365-546nm |
| 熒光發(fā)射 | 400-900nm |
| 探測器類型 | Lightblades™ |
| 探測器 | CCD和inGaAs陣列 |
| 探測器冷卻 | TE制冷 |
| 光譜分辨率 | 1-15nm |
| 采樣面積 | 1-10000µm² |