Leica DM3 XL 顯微鏡微電子和半導(dǎo)體用檢驗(yàn)系統(tǒng)
在微電子和半導(dǎo)體行業(yè)中,,檢驗(yàn),、過(guò)程控制或缺陷和故障分析的速度至關(guān)重要。檢測(cè)缺陷的速度越快,,您做出響應(yīng)的速度也就越快,。DM3 XL 檢驗(yàn)系統(tǒng)憑借大視場(chǎng)幫助您的團(tuán)隊(duì)更快地識(shí)別缺陷,提高您的收益率,。充分利用*的宏觀物鏡,,視場(chǎng)寬敞 30%。
性能與優(yōu)點(diǎn)
更多細(xì)節(jié)盡收眼底,,工作更高效
看到更多細(xì)節(jié)意味著工作更高效,。為快速掃描達(dá)到 6" 的大組件,DM3 XL 提供*的宏觀物鏡,。
利用 0.7x 放大倍率,,它可以即刻采集 35.7 mm 的視場(chǎng) – 比其他常規(guī)掃描物鏡寬敞 30%。
在宏觀物鏡下,,缺陷無(wú)所遁形:
適用于所有相襯觀察方法的 LED
DM3 XL 針對(duì)所有相襯觀察方法使用 LED 照明,。LED 照明可提供恒定的色溫,并在所有亮度等級(jí)下提供真彩色成像,。
在所有亮度等級(jí)下實(shí)現(xiàn)真彩色成像
由于 LED 使用壽命長(zhǎng),,耗電量低,因此還具有巨大的成本節(jié)約潛力,。
Leica DM3 XL 顯微鏡微電子和半導(dǎo)體用檢驗(yàn)系統(tǒng)
光學(xué)“高手"
DM3 XL 讓您以實(shí)惠的價(jià)格享受到的光學(xué)性能,。
采用斜射照明檢驗(yàn)側(cè)面、邊緣或碎屑:以簡(jiǎn)單有效的方式從不同角度照亮樣品,,從而實(shí)現(xiàn)各種形貌的可視化,。
借助深暗場(chǎng)對(duì)比檢測(cè)樣品較低層中的微小劃痕或小顆粒。
您將對(duì)明顯提高的靈敏度和分辨率感到震驚。
不同樣品 – 可變載物臺(tái)插件
無(wú)論您想要檢驗(yàn)的樣品是哪種類(lèi)型,,尺寸如何,,均有種類(lèi)豐富的載物臺(tái)插件供您選擇:
載物臺(tái)尺寸:150 mm x 150 mm
載物臺(tái)插件:金屬插件、晶片支座或掩模支座
快速的粗略或jing準(zhǔn)載物臺(tái)定位
工作舒適直觀
彩色編碼光圈輔助 (CCDA) 對(duì)分辨率,、對(duì)比和景深的基本設(shè)置進(jìn)行簡(jiǎn)化,,有助于提升您的工作速度,并*大程度減少操作失誤,。
直觀明了的功能幫助您的團(tuán)隊(duì)更快速地交付*佳結(jié)果,。
得益于可輕松操作的控件,用戶(hù)可在切換對(duì)比度或照明時(shí),,雙手繼續(xù)操作顯微鏡,,雙眼專(zhuān)注于樣品之上。
右手可輕松操控光強(qiáng)控制器
使用可變?nèi)梭w工學(xué)鏡筒和調(diào)焦旋鈕,,根據(jù)不同身高調(diào)整顯微鏡
Leica DM3 XL 顯微鏡微電子和半導(dǎo)體用檢驗(yàn)系統(tǒng)
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