根據GB/T 11417.5 4.1相關內容,，接觸鏡的后頂焦度在空氣中可使用焦度計測定,，在鹽溶液中可使用摩爾偏折儀或哈特曼法測定,。

摩爾偏折儀即使用摩爾干涉條紋偏折法的接觸鏡測量儀器，其基本測量原理是：摩爾干涉條紋的轉動角度與鏡片屈光度成一定比例關系,。

世界上只有以色列的ROTLEX公司生產該種儀器,，目前該儀器的型號為CONTEST II。該儀器可在空氣中測量接觸鏡,，也可在溶液中測量,。由于它能夠得到整個鏡片上每一個點或區(qū)域的后頂焦度，意味著可以測量鏡片的“光學分布圖",，所以對于焦度計很難測量的環(huán)曲面鏡片,，多焦點鏡片或近視防控鏡片等特殊類型的鏡片，摩爾偏折儀具有顯著的優(yōu)勢,。

由于摩爾偏折儀可以在溶液中測量接觸鏡,，對于水凝膠接觸鏡來說，其測量的時候會處于相對穩(wěn)定狀態(tài),，所以,，相對于焦度計而言，其測量的準確度和重復性會好很多,。

注意：上海朗善光學儀器有限公司作為以色列ROTLEX公司產品在中國的總代理,，全權負責其產品的銷售、安裝,、培訓和售后服務等工作,。任何非本公司銷售的儀器將不享有原廠和本公司提供的任何保修和維修服務。

Contest II隱形眼鏡（接觸鏡）光學分析儀的特點：

• 可在空氣中或溶液中測量

• 可測量各種鏡片,，如水凝膠或硅水凝膠,，RGP,，角膜塑形鏡，鞏膜鏡等

• 可測量單光鏡片,、散光鏡片,、非球面鏡片、多焦點等任意設計的鏡片

• 測量球鏡和散光值：球面,，非球面,，散光，多焦點等

• 可查看任意點,、任意孔徑,、環(huán)形區(qū)域或子午線上的數(shù)據

• 內置分析模式，可分析任意斷面的屈光分布情況

• 可設置自動判斷功能,，數(shù)據可導出至第三方軟件

Contest II 隱形眼鏡（接觸鏡）光學分析儀（高分版）的產品優(yōu)勢：

• 高精度波前傳感器能夠提供遠多于傳統(tǒng)焦度計的數(shù)據和精度,，測量數(shù)據大于35000點

• 測量原理：采用具有的摩爾條紋干涉技術并結合了雙光柵Lau效應

• 內部光學系統(tǒng)為全固定設計，無移動部件,，保證了長時間的穩(wěn)定和精確

• 軟件界面功能強大，操作簡單,，內置研發(fā)模式是鏡片設計人員的利器

• 光度分布圖可揭示對刀問題

• 可直接測量光學區(qū)域（Optical Zone）

Contest II 隱形眼鏡（接觸鏡）光學分析儀（高分版）的技術參數(shù)：

• 尺寸：25cmX19cmX52cm

• 重量：9Kg

• 測量范圍：-35D ~ +35D ,，（可擴展至60D）

• 分辨率：0.01D

• 測量精度：0.5%

• 像素尺寸：7微米

• 供電：12VDC

• 操作系統(tǒng)：Windows XP/7/8/10

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