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供貨周期 | 現(xiàn)貨 | 貨號 | 4035 273 12631 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,制藥 |
圣賓儀器科技(上海)有限公司是一家專注于分析檢測行業(yè)的系統(tǒng)性供應(yīng)商,一直致力于分析測試技術(shù)方面進(jìn)口儀器的配件耗材供應(yīng),主要優(yōu)勢經(jīng)銷代理品牌:美國賽默飛世爾(ThermoFisher)原裝配件耗材(比如:ICP光譜,ICP-MS質(zhì)譜,AAS原子吸收光譜, GC-MS氣質(zhì),LC-MS液質(zhì),ARL直讀光譜ARL3460,ARL4460,ARLiSpark8820/8860/8880),9800/9900X熒光光譜,,同位素質(zhì)譜,紅外光譜等儀器備件),,珀金埃爾默(PerkinElmer)耗材,,美國安捷倫(Agilent)耗材,,美國沃特世(Waters)耗材,戴安(DIONEX)色譜耗材,,島津(SHIMADZU)耗材,,瑞士萬通(Metrohm),,CEM耗材等。
4035 273 12631賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極
賽默飛FEL 部分配件耗材
16830 離子源
4035 273 12631 拔出極
4035 273 6 7441 光闌
4035 272 35991 抑制極
4035 272 35971 拔出極
1058129 拔出極
1301684 Suppressor 抑制極
1096659 Aperture 光闌
1346158 PT
環(huán)境掃描電鏡
Thermo Scientific Prisma E 掃描電鏡 (SEM) 結(jié)合了廣泛的成像和分析模式以及*自動化功能,,和同類儀器相比,,可提供最完整的解決方案。對于工業(yè)研發(fā),、質(zhì)量控制和失效分析應(yīng)用領(lǐng)域,需要一臺具有高分辨成像,,廣泛的樣品兼容性,,簡單易用的用戶界面的掃描電鏡,,Prisma E是這類應(yīng)用的理想選擇。Prisma E是在前代Quanta SEM基礎(chǔ)上的又一次成功實(shí)踐,。
全面的性能,強(qiáng)大的附近擴(kuò)展能力,,以及結(jié)合Thermo Scientific ChemiSEM 技術(shù)所實(shí)現(xiàn)最直觀的元素分析能力,,使Prisma E在任何行業(yè)或領(lǐng)域都能夠?qū)崿F(xiàn)微米/亞微米級成像和分析,。
4035 273 12631賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極
主要特點(diǎn)
通過選配 ChemiSEM 技術(shù)和集成能量色散 X 射線光譜 (EDS) 進(jìn)行實(shí)時(shí)成分面分布以實(shí)現(xiàn)直觀元素分析,。這種始終在線的分析能力可極大提高您的工作效率,并獲取最完整的樣品信息,。
靈活的真空模式以及通過透鏡抽真空技術(shù),使Prisma E可在低電壓和低真空下獲得出色的圖像質(zhì)量,。且在每個(gè)操作模式下,都可實(shí)現(xiàn)二級電子 (SE) 和背散射電子 (BSE) 同時(shí)成像,。
低真空和 ESEM 功能可對非導(dǎo)電和/或含水樣品進(jìn)行無電荷/或無脫水成像和分析,。
憑借 Prisma E 的環(huán)境 (ESEM) 模式,、可在樣品加熱、放氣或潮濕的狀態(tài)下直接成像,。
倉室支持最多安裝3 個(gè) EDS 探測器,其中兩個(gè)EDS接口呈180° 對稱,,并可安裝波長色散光譜 (WDS),、共面 EDS/EBSD,,并可在低真空模式下實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量無電荷 EDS 和 EBSD 分析。
易于使用
操作軟件具有用戶指南和撤消功能,,可以使新手用戶進(jìn)行高效的操作,,也可極大減少專家級用戶的操作負(fù)荷,。
規(guī)格
參數(shù) | · 分辨率在高真空、低真空和 ESEM 的 30 kV 下為 3.0 nm · 在 3 kV(BSED,、樣品臺減速)下為 7.0 nm |
標(biāo)準(zhǔn)檢測器 | · ETD、低真空 SED (LVD),、 ESEM SED (GSED)、紅外CCD |
可選檢測器 | · Thermo Scientific Nav-Cam+ 攝像機(jī),、DBS,、DBS-GAD,、ESEM-GAD、STEM 3+,、WetSTEM,、RGB-CLD,、EDS、EBSD,、WDS,、拉曼,、EBIC 等 |
ChemiSEM 技術(shù)(可選) | · 可基于能量色散 X 射線光譜 (EDS) 進(jìn)行實(shí)時(shí)定量 元素面分布。包含點(diǎn)分析,、線掃描,、面分布及元素定量,。 |
樣品臺減速(可選) | · -4,000 V 至 +50 V |
低真空模式 | · 高達(dá) 2,600 Pa (H2O) 或 4,000 Pa (N2) |
樣品臺 | · 5軸馬達(dá)優(yōu)中心樣品臺,110 x 110 mm2,,105° 傾斜范圍。最大樣品重量:未傾斜位置,,5 kg,。 |
標(biāo)準(zhǔn)樣品支架 | · 標(biāo)準(zhǔn)多樣品 SEM 支架可單獨(dú)安裝 · 在載物臺上,,可容納多達(dá) 18 個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品托 (? 12 mm), · 無需工具即可安裝樣品 |
樣品倉 | · 340 mm 內(nèi)寬,,12 個(gè)接口,最多可接三個(gè) EDS 檢測器(兩個(gè)呈 180°對稱),,并具有與共面 EDS共面的EBSD接口,。 |
原位配件(可選) | · 軟件控制的 -20°C 至 +60°C Peltier 冷臺 · 軟件控制的 1,000°C 低真空/ESEM 熱臺 · 軟件控制的 1,100°C 高真空熱臺 · 軟件控制的 1,400°C 低真空/ESEM 熱臺 · 集成氣體注入系統(tǒng):用于下列材料的電子束誘導(dǎo)沉積,,最多支持2種氣體(其他配件可能限制可用的注氣系統(tǒng) (GIS) 數(shù)量): o 鉑 o 鎢 o 碳 · 納米機(jī)械手 · 液氮致冷臺 · 電子探針/多探針臺 |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)